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申请/专利权人：上海御渡半导体科技有限公司

摘要：一种稀疏矩阵合并后分组的多元冗余分析方法及其实现装置，每个DRAM存储区域包括多个块组BlockGroup，每块组BlockGroup包括N个块Block且有共享列冗余资源Ct，每块Block均有行冗余资源Rt；该方法包括根据每块Block内故障点按关联关系将具有相同行列的故障点归并到一个故障组FailGroup，形成M个故障组FailGroup；对故障组FailGroup1和故障组FailGroup2的各元素求解合并，形成新故障组NewFailGroup，其解空间为{R0Cx、R1Cx…RyCx…RtCx}，然后继续对故障组FailGroup3和NewFailGroup求解合并，直到M个故障组合并完成，得到Block的解；接着在BlockGroup层面对每个块Block解统计求和，如果N个所述块Block的最小共享列冗余资源Cmin的总数少于等于BlockGroup的Ct，确定该BlockGroup可修复；因此，本发明优化了冗余资源使用策略。

主权项：1.一种稀疏矩阵合并后分组的多元冗余分析方法，用于DRAM冗余资源布局策略的优化，所述DRAM冗余资源布局包括至少一个所述DRAM的存储区域，每个所述存储区域包括若干个块组BlockGroup，每一个所述块组BlockGroup包括N个块Block且拥有共享列冗余资源Ct，每一个所述块Block均拥有行冗余资源Rt；其中，x为0-共享列冗余资源Ct之间的一个值，y为0-行冗余资源Rt的之间的一个数；其特征在于，包括如下步骤：步骤S1：对所述DRAM的存储区域进行检测，得到所有故障点的分布地图；将所有所述故障点的行和列分别作为一个节点，存入稀疏矩阵；对每一个块Block内故障点按关联关系分成若干故障组FailGroup，即将具有相同行相同列的故障点归并到一个故障组FailGroup，形成M个故障组{FailGroup1,FailGroup2…FailGroupy…FailGroupM}；步骤S2：对故障组FailGroup1和故障组FailGroup2分别对各个元素RyCx求解，合并成新故障组NewFailGroup，其解空间为{R0Cx、R1Cx…RyCx…RtCx}；其中，设置y为2至t间的一个整数值；初始化时，y为2；步骤S3：将y加1，判断y是否大于t，如果不是，依次将所述故障组NewFailGroup加上所述故障组FailGroupy合并成新的故障组NewFailGroup，所述故障组NewFailGroup解空间为{R0Cx、R1Cx…RyCx…RtCx}；继续执行步骤S3；如果是，确定所述解空间为{R0Cx、R1Cx…RyCx…RtCx}，执行步骤S4；步骤S4：在所述解空间为{R0Cx、R1Cx…RyCx…RtCx}中寻找一个解，所述解为以Rt个行冗余资源为限，使用尽可能多的块内冗余行资源数，从而使用最小共享列冗余资源Cmin，即为所述块Block的解；步骤S5：在所述块组BlockGroup层面做统计求和，得到修复该BlockGroup需要的最小共享列冗余资源Cx，如果所述的共享列冗余资源Cx的x少于等于所述块组BlockGroup的共享冗余资源Ct，确定所述块组BlockGroup即可修复，否则，确定所述块组BlockGroup不可修复。

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