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申请/专利权人：香港科技大学(广州)
摘要：本申请实施例提供了一种基于单样本的复杂制造表面的缺陷检测方法，属于3D缺陷检测技术领域。该方法包括：获取目标产品的表面点云数据；根据预设的多个切割平面对所述表面点云数据进行分解处理，得到多个目标轮廓数据；对每一所述目标轮廓数据进行聚类处理，得到多个轮廓聚类集合；对每一所述轮廓聚类集合进行误差点剔除处理，得到目标聚类集合；根据多个所述目标聚类集合对所述目标产品进行复杂制造表面的缺陷检测，得到复杂制造表面的缺陷检测结果。本申请实施例能够降低缺陷检测的成本，提高缺陷检测的效率和准确性。
主权项：1.一种基于单样本的复杂制造表面的缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取目标产品的表面点云数据；根据预设的多个切割平面对所述表面点云数据进行分解处理，得到多个目标轮廓数据；对每一所述目标轮廓数据进行聚类处理，得到多个轮廓聚类集合；对每一所述轮廓聚类集合进行误差点剔除处理，得到目标聚类集合；根据多个所述目标聚类集合对所述目标产品进行复杂制造表面的缺陷检测，得到复杂制造表面的缺陷检测结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 香港科技大学(广州) 基于单样本的复杂制造表面的缺陷检测方法
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