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申请/专利权人：无锡宇宁智能科技有限公司
摘要：本申请公开了一种基于异常检测模型改进的主板缺陷检测方法、装置及设备，涉及缺陷检测技术领域，该方法包括：获取待检测主板的原始图像，并在待检测主板的原始图像中提取出待检测关键区域；基于改进的Anomalib模型，对待检测关键区域进行检测，得到待检测关键区域的异常概率分布数据；基于待检测关键区域的异常概率分布数据，确定待检测关键区域中的缺陷位置；对待检测关键区域以及待检测关键区域中的缺陷位置分别进行标记，生成待检测主板的结果热力图。通过上述方式，优化模型结构，减少计算量，提高模型的推理效率，同时利用图像关键区域进行训练和推理，提高模型针对性，提高模型的准确性与推理效率，提高缺陷检测的准确性和效率。
主权项：1.一种基于异常检测模型改进的主板缺陷检测方法，其特征在于，所述的方法，包括：获取待检测主板的原始图像，并在所述待检测主板的原始图像中提取出待检测关键区域；基于改进的Anomalib模型，对所述待检测关键区域进行检测，得到所述待检测关键区域的异常概率分布数据，所述改进的Anomalib模型包括预处理单元、替换了原始特征提取单元的Bottleneck单元以及异常识别单元，所述预处理单元用于提取所述待检测关键区域中的视觉特征，并将所述视觉特征输入所述Bottleneck单元，所述Bottleneck单元用于基于所述视觉特征生成降维特征，并将所述降维特征输入所述异常识别单元进行异常识别；基于所述待检测关键区域的异常概率分布数据，确定所述待检测关键区域中的缺陷位置；对所述待检测关键区域以及所述待检测关键区域中的缺陷位置分别进行标记，生成所述待检测主板的结果热力图。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 无锡宇宁智能科技有限公司 基于异常检测模型改进的主板缺陷检测方法、装置及设备
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