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一种高世代TFT玻璃A型架检测装置 

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申请/专利权人:蚌埠中光电科技有限公司;中建材蚌埠玻璃工业设计研究院有限公司

摘要:本发明公开一种高世代TFT玻璃A型架检测装置,包括水平基座,水平基座顶面画有矩形标志线,矩形标志线作为A型架的放置区域;水平基座顶面两侧对称设有呈直角三角形的检测架,检测架的朝向与A型架的朝向相同、且检测架斜边的斜度与A型架相同;检测架设有定位挡板、标尺与测量尺等部件,通过个部件的配合可以对A型架的外形尺寸进行测量;本检测装置还包括架设于检测架上的方杆以及放置于A型架底板的基准面测量方杆,通过方杆和基准面测量方杆可以对A型架的背板平面度、底板平面度进行有效测量,提高检测精度,减小检测误差。

主权项:1.一种高世代TFT玻璃A型架检测装置,其特征在于,包括水平基座,水平基座顶面画有矩形标志线,矩形标志线作为A型架的放置区域;水平基座顶面两侧对称设有呈直角三角形的检测架,检测架的朝向与A型架的朝向相同、且检测架斜边的斜度与A型架相同;两个检测架底部之间连接有定位挡板,定位挡板用于对A型架底座进行定位,定位挡板设有用于对A型架底座后部长度进行测量的第一刻度;检测架底边上方设有水平的第一标尺,第一标尺套设有第一滑块与第二滑块,第一滑块与第二滑块顶面分别连接有第一U形卡与第二U形卡,第一U形卡内水平横向设有第一测量尺,第二U形卡内设有呈L形的第二测量尺;第一标尺、第一测量尺与第二测量尺用于对A型架宽度、A型架底座前部长度进行测量;检测架的顶角设有第二标尺,第二标尺与第一标尺的朝向相同,第二标尺套设有第三滑块,第三滑块顶面连接有第三U形卡,第三U形卡内设有呈L形的第三测量尺;第二标尺与第三测量尺用于对A型架高度以及第一张玻璃的放置位置进行测量;所述检测装置还包括方杆、两个上基准矩形块与两个可移动基准矩形块,两个上基准矩形块分别对应固定于两个检测架的斜边,两个可移动基准矩形块分别对应设于两个上基准矩形块下方、且与检测架的斜边磁吸固定;所述方杆可架设于两个上基准矩形块或两个可移动基准矩形块之间,两个检测架的斜边作为A型架的背板基准面,通过上下移动两个可移动基准矩形块,可以改变方杆的高度,从而对A型架的背板平面度进行检测;所述检测装置还包括基准面测量方杆,两个检测架的斜边底部分别连接有上翘的斜板,斜板板面形成A型架底板基准面;基准面测量方杆置于A型架底板,与斜板共同检测A型架底板的平面度。

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权利要求:

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