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申请/专利权人:苏州奥腾电子科技有限公司
摘要:本发明公开了对象检测方法及系统,涉及电子元件检测技术领域,解决了整体检测精度并不高,并不能使电子元件处于最坏的工作环境下进行测试,也未对电子元件进行温度极限测试,导致整体检测效果不佳的技术问题,通过不同的功率测试区间对电子元件进行自测试处理,并通过分析输出参数,对电子元件是否异常进行判定,后续,再通过波形分析,为了确保数值测试的准确度,采用波形波动较大的一组功率测试区间,再根据所确定的区间,对电子元件再次进行温度测试,在测试过程中,分析预警值出现的次数以及具体时长,不会因某次数值波动,造成误判的情况发生,提升合格产品判定的准确度,同时提升电子元件的整体检测效果。
主权项:1.对象检测系统,其特征在于,包括图像获取端、参数获取端、检测中心以及显示终端;所述检测中心包括图像分析单元、预设数据库、功率区间参数分析单元、数值分析单元、温度调控单元以及极限数值确定单元;所述图像获取端,用于对需要进行测试的电子元件外表面的图像进行获取,并将所获取的电子元件外表面图像传输至检测中心内;所述图像分析单元,对电子元件外表面图像进行接收,并从预设数据库内提取预设的图像模板,将电子元件外表面图像与图像模板进行比对分析,通过分析结果,对电子元件是否异常进行判定;所述功率区间参数分析单元,对测试信号进行接收,从预设数据库提取功率测试区间参数,根据所提取的功率测试区间参数,再通过功率测试区间对电子元件进行自测试处理,启动参数获取端,对电子元件的输出功率参数进行获取,并将所获取的输出功率参数传输至功率区间参数分析单元内,根据分析结果,确定单组功率测试区间,具体方式为:S1、将所提取的功率测试区间参数依次标记为0,X1】,X1,X2】以及X2,X3】,其中X1、X2以及X3均为预设的边界参数;S2、确定第一组功率测试区间0,X1】,对电子元件进行测试,将电子元件的输入参数限制在第一组功率测试区间内,并将输入参数逐渐调节,将输入参数标记为SRi,通过参数获取端,获取电子元件的输出参数,并将其标记为SCi,并通过时刻改变的输入参数以及输出参数建立第一组波形图,采用得到若干个导向因子Ki,并将若干个导向因子Ki进行捆绑,得到第一组待分析捆绑包;S3、再确定第二组功率测试区间X1,X2】,采用步骤S2同样的测试方式,建立第二组波形图,以及得到第二组待分析捆绑包;S4、确定第三组功率测试区间X2,X3】,采用步骤S2同样的测试方式,建立第三组波形图,并得到第三组待分析捆绑包;S5、从预设数据库内提取预设比对区间,其中预设比对区间为预设值,将三组待分析捆绑包与预设比对区间进行比对,当三组待分析捆绑包内部的导向因子均属于此预设比对区间时,进行下一步处理,反之,将此电子元件标记为异常品,并传输至显示终端内进行显示;S6、将三组波形图进行提取,并进行波动分析,获取波动幅度最大的一组波形图,并提取对应的功率测试区间,将所提取的功率测试区间传输至数值分析单元内;所述数值分析单元,对功率测试区间进行接收,并生成温度调控信号,传输至温度调控单元内,采用此功率测试区间对电子元件进行再测试,并在测试过程中,通过温度调控单元对测试温度进行调控,并对测试参数进行分析,判定此电子元件是否合格;所述极限数值确定单元,对合格产品进行温度极限测试处理,将合格产品分类为标佳产品以及次佳产品,并传输至显示终端内进行显示。
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