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一种光电混合计算系统中ADC欠采样校准方法及装置 

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申请/专利权人:光本位科技(苏州)有限公司

摘要:本发明涉及一种光电混合计算系统中ADC欠采样校准方法,其包括步骤:S101提供一输入信号;S102根据预先配置的延迟参数将一个周期的所述输入信号均分,得到N个延迟信号;S103基于每个延迟信号的起始点作为采样时间点进行波形采集,得到待识别信号集;S104将所述待识别信号集中每个待识别信号与所述输入信号进行比较,得到每个所述待识别信号与所述输入信号的相似度;S105按照预设筛选条件从所述待识别信号集中筛选出目标延迟信号,并将所述目标延迟信号的起始点作为最佳采样时间点进行欠采样;其中,所述预设筛选条件包括:将相似度最大的所述待识别信号作为目标延迟信号。相应地,本发明还提供了一种光电混合计算系统中ADC欠采样校准装置。

主权项:1.一种光电混合计算系统中ADC欠采样校准方法,其特征在于,包括步骤:S101提供一输入信号;S102根据预先配置的延迟参数将一个周期的所述输入信号均分,得到N个延迟信号;S103基于每个延迟信号的起始点作为采样时间点进行波形采集,得到待识别信号集;S104将所述待识别信号集中每个待识别信号与所述输入信号进行比较,得到每个所述待识别信号与所述输入信号的相似度;S105按照预设筛选条件从所述待识别信号集中筛选出目标延迟信号,并将所述目标延迟信号的起始点作为最佳采样时间点进行欠采样;其中,所述预设筛选条件包括:将相似度最大的所述待识别信号作为目标延迟信号。

全文数据:

权利要求:

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