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申请/专利权人：株式会社日立高新技术
摘要：本发明提供一种准确地判定对通过了质量分析部的离子进行检测的检测器单体的性能的技术。本公开的质量分析系统具备：第1转换器，其基于从质量分析装置中的、检测通过了质量分析部的离子的检测器输出的电信号中的脉冲的强度、面积来计算第1测定值；第2转换器，其通过对该电信号的脉冲数进行计数来求出第2测定值；计算部，其计算表示第1测定值相对于第2测定值的比率的AP比；判定部，其基于AP比的值来判定检测器的性能；以及控制部，其至少控制判定部的判定结果的输出参照图1。
主权项：1.一种质量分析系统，其特征在于，具备：质量分析装置，其包括对测定试样进行离子化的离子源、根据质荷比对由所述离子源生成的离子进行分析的质量分析部、以及对通过了所述质量分析部的离子进行检测的检测器；第1转换器，其在固定时间内，读取从所述检测器输出的电信号的波形图中出现的脉冲的强度或面积，将所读取的脉冲的强度或面积除以预先求出的每1个测定对象的离子的强度或面积来计算第1测定值；第2转换器，其在所述固定时间内，通过对所述电信号的波形图中出现的脉冲中、预先确定的阈值以上的脉冲的数量进行计数来求出第2测定值；计算部，其计算表示所述第1测定值相对于所述第2测定值的比率的AP比；判定部，其基于所述AP比的值，判定所述检测器的性能；以及控制部，其至少控制所述判定部的判定结果的输出，所述判定部将所述AP比与预先确定的基准范围进行比较，在所述AP比是所述基准范围以内的值的情况下，将所述检测器判定为合格，在所述AP比偏离了所述基准范围的情况下，将所述检测器判定为不合格，所述判定部除了进行所述检测器的性能判定之外，还通过比较所述第2测定值和时间序列上靠前的结果，来判定所述质量分析装置中所述检测器以外的部分的污染，在所述第2测定值比所述时间序列上靠前的结果少的情况下，判定为存在所述检测器以外的部分的污染。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 株式会社日立高新技术 质量分析系统以及判定质量分析装置的性能的方法
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