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申请/专利权人：广芯微电子(苏州)有限公司
摘要：本发明公开了基于ATE平台快速修调芯片时钟模块频偏的量产测试方法，涉及半导体技术领域，包括：由ATE机台进行测试信号控制，区域CSET值和精度TRIM值初始化配置从中心值开始，完成所有工位CSET和TRIM修调值初始化；使用ATE机台TMU模块统一并行测量所有工位输出时钟频率，并根据输出结果执行后续操作；依次修改对应工位芯片内配置，将两组修调值组合，执行对应操作流程。本发明提供的基于ATE平台快速修调芯片时钟模块频偏的量产测试方法不依赖芯片设计添加，利用外部ATE测试平台，并通过优化测试修调计算次数，尽可能分开串并行测试方式，来提升测试效率，降低测试成本。
主权项：1.基于ATE平台快速修调芯片时钟模块频偏的量产测试方法，其特征在于，包括：由ATE机台进行测试信号控制，区域CSET值和精度TRIM值初始化配置从中心值开始，完成所有工位CSET和TRIM修调值初始化；使用ATE机台TMU模块统一并行测量所有工位输出时钟频率，并根据输出结果执行后续操作；依次修改对应工位芯片内配置，将两组修调值组合，执行对应操作流程；所述根据输出结果执行后续操作包括，初始修调组合配置结束后，使用ATE机台TMU模块统一并行测量所有工位输出时钟频率，判断是否与目标频率范围匹配，若匹配则关闭当前工位并输出记录修调组合值，若不匹配进入二分法筛选复测；所述二分法筛选复测是先固定CSET粗调档位不变，TRIM值根据与输出频率比例关系进行调整，若TRIM值大小与频率成正比对应，则当前CSET+TRIM组合输出频率小于目标频率，则TRIM值增加TRIM2，若大于目标频率则TRIM值减小TRIM2，若频率和修调值成反比关系，则修调值加减方向与频率相反。
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权利要求：
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