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申请/专利权人：爱芯元智半导体股份有限公司
摘要：本申请提供一种反压验证系统与方法。所述系统通过从设备配置包括时间信息和比重信息的反压参数，并通过比重信息筛选时间信息，生成具有随机性的反压时间队列。以使从设备在接收待验证模块发送的测试数据时，可以根据反压时间队列中存储的反压时间，控制向待验证模块反馈握手信号的时间，进而模拟反压场景。以及通过检测模块获取待验证模块、从设备在验证过程中生成的数据以及成员变量的变化情况，在目标数据与期望数据相同时，生成第一验证信息以表征待验证模块通过验证。
主权项：1.一种反压验证系统，其特征在于，包括从设备、待验证模块以及检测模块；所述从设备被配置为：配置反压参数，所述反压参数包括时间信息和比重信息；其中，在所述时间信息表征的时间长度不同时，所述时间信息对应的比重信息不同；根据所述比重信息筛选时间信息，以及将所述时间信息存储至存储单元，得到反压时间队列；所述时间信息包括反压状态的解除时间；在接收测试数据时，基于所述解除时间向所述待验证模块反馈握手信号，以及根据所述测试数据生成目标数据；所述待验证模块被配置为：向所述从设备以及所述检测模块发送测试数据，以使所述从设备根据所述测试数据生成目标数据，以及使所述检测模块根据所述测试数据生成期望数据；所述检测模块被配置为：获取所述目标数据，以及比较所述目标数据与所述期望数据；若所述目标数据与所述期望数据相同，则生成第一验证信息；所述第一验证信息用于表征所述待验证模块通过验证。
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权利要求：
百度查询： 爱芯元智半导体股份有限公司 反压验证系统与方法
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