买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
申请/专利权人:香港工业人工智能及机械人研发中心
摘要:本申请涉及一种用于检测物体表面缺陷的系统及方法,所述用于检测物体表面缺陷的系统,包括:多角度硬件移动平台,用于驱动放置在所述平台上的物体沿X和Y轴至少之一平移或在X‑Y平面旋转,激光轮廓测量仪,用于采集所述物体的图片;以及运行有无监督学习神经网络模型的计算设备,用于将采集到的图片与训练好的正样品图片进行比较以识别所述物体的表面缺陷。所述模型已经由正样本训练而得到正样本表征,所述模型将采集到的物体图片与所述正样本表征比较而识别所述物体的表面缺陷。本申请相对于传统的人工质量检查减少了工人长时间在高光照条件下重复工作的安全隐患、解决了数据收集难和缺陷观测难的问题,为检查带来自动化和智能化的升级。
主权项:1.一种用于检测物体表面缺陷的系统,包括:多角度硬件移动平台,用于驱动放置在所述平台上的物体沿X和Y轴至少之一平移或在X-Y平面旋转,激光轮廓测量仪,用于采集所述物体的图片;以及运行有无监督学习神经网络模型的计算设备,用于将采集到的图片与训练好的正样品图片进行比较以识别所述物体的表面缺陷。所述模型已经由正样本训练而得到正样本表征,所述模型将采集到的物体图片与所述正样本表征比较而识别所述物体的表面缺陷。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 香港工业人工智能及机械人研发中心 用于检测物体表面缺陷的系统及方法
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。