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光波导的CRA测量方法以及CRA测量装置 

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申请/专利权人:歌尔光学科技有限公司

摘要:本申请实施例提供了一种光波导的CRA测量方法及CRA测量装置;其中,所述CRA测量方法包括:将待测的光波导放置于测量区,所述光波导包括耦入区及耦出区;获取第一光源投射至所述光波导的表面时探测器采集到的第一光信息;其中,所述第一光信息包括反射光信息OC'R或透射光信息OC'T;获取第二光源投射至所述耦入区,并经所述光波导全反射传播至所述耦出区耦出时所述探测器采集到的第二光信息OC'out;根据所述第一光信息及所述第二光信息OC'out在空间位置上的偏移量,经计算获得光波导的CRA。

主权项:1.一种光波导的CRA测量方法,其特征在于,包括:将待测的光波导放置于测量区,所述光波导包括耦入区及耦出区;获取第一光源投射至所述光波导的表面时探测器采集到的第一光信息;其中,所述第一光信息包括反射光信息OC'R或透射光信息OC'T;获取第二光源投射至所述耦入区,并经所述光波导全反射传播至所述耦出区耦出时所述探测器采集到的第二光信息OC'out;根据所述第一光信息及所述第二光信息OC'out在空间位置上的偏移量,经计算获得光波导的CRA。

全文数据:

权利要求:

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