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申请/专利权人：无锡芯灵微电子有限公司

摘要：本发明涉及芯片批量检测技术领域，具体为一种基于数据分析的芯片批量自动化测试系统，包括操作台，操作台的顶部通过轴承活动连接有环形转盘，操作台的侧壁通过螺栓固定连接有多组机架一和多组机架二，机架一的顶部对称固定连接有滑轨一，两个滑轨一之间设置有滑板一，滑板一的两端均滑动连接在对应设置的滑轨一内，滑板一的底部对称固定连接有电动推杆一，电动推杆一的底端固定连接有横板，横板的顶部设置有分合料组件，分合料组件包括推板，推板设置在横板的顶部，横板的侧壁固定连接有托板，本发明与现有技术相比较，是通过对芯片间距进行提前扩大，以消除测试设备与相邻芯片引脚接触影响检测结构的问题。

主权项：1.一种基于数据分析的芯片批量自动化测试系统，包括操作台（1），所述操作台（1）的顶部通过轴承活动连接有环形转盘（2），其特征在于，所述操作台（1）的侧壁通过螺栓固定连接有多组机架一（301），所述机架一（301）的顶部对称固定连接有滑轨一（4），两个滑轨一（4）之间设置有滑板一（5），所述滑板一（5）的两端均滑动连接在对应设置的滑轨一（4）内，所述滑板一（5）的底部对称固定连接有电动推杆一（6），所述电动推杆一（6）的底端固定连接有横板（7），所述横板（7）的顶部设置有分合料组件（8）；所述分合料组件（8）包括推板（801），所述推板（801）设置在横板（7）的顶部，所述横板（7）的侧壁固定连接有托板（802），所述托板（802）的顶部固定连接有电动推杆二（9），所述电动推杆二（9）的输出端与推板（801）侧壁固定连接，所述推板（801）的另一侧壁固定连接有多组限位杆（803），所述限位杆（803）的侧壁固定连接有限位斜块一（804），所述限位杆（803）的侧壁通过连接架固定连接有限位斜块二（805）；所述横板（7）的顶部开设有多组滑槽，所述横板（7）的顶部固定连接有限位架（806），所述限位架（806）内滑动连接有导向杆（807），所述导向杆（807）的截面为矩形，所述导向杆（807）的一端固定连接有限位斜块三（808），所述限位斜块三（808）与限位斜块一（804）、限位斜块二（805）相配合；所述限位斜块三（808）的顶部开设有斜滑槽（10），所述限位斜块一（804）的顶部固定连接有衔接架杆（11），所述斜滑槽（10）内滑动连接有滑块，所述衔接架杆（11）的一端与滑块固定连接；所述横板（7）的底部设置有滑动座（12），所述滑动座（12）的底部设置有气动吸盘（13），所述滑动座（12）固定连接在导向杆（807）的底部。

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