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申请/专利权人：深圳市利和兴股份有限公司
摘要：本发明公开了一种汽车MCU自动测试方法及系统，具体涉及汽车MCU技术领域；通过确定时序基准、模拟真实操作环境、记录和分析实时操作时序数据、评估和分类时序问题的风险等级，并针对中风险问题进行预测和优化，能够有效识别和解决潜在的时序问题，提升MCU的整体性能，减少系统失效的可能性，从而提高车辆的安全性和运行效率，通过自动化测试和智能分析，大幅降低了人工干预和测试成本，提高了测试效率和准确性，最终实现了MCU时序问题的精确定位和优化，保障了系统的稳定性和可靠性。
主权项：1.一种汽车MCU自动测试方法，其特征在于：包括以下步骤；S1：根据汽车MCU中所有操作的目标时序要求，确定每个操作的时序基准，通过仿真器和测试设备模拟真实操作环境，通过自动测试脚本执行预设的多任务负载和环境模拟，并记录MCU的实时操作时序数据；S2：将记录的MCU的实时操作时序数据进行预处理，将预处理后的MCU的实时操作时序数据与预先定义的时序基准进行对比分析，根据分析结果确定MCU的操作时序是否充分测试；S3：当MCU的操作时序未充分测试时，检查测试过程中生成的日志文件和错误报告，提取测试过程中的多任务访问资源冲突特征和无限循环中的CPU使用率波动特征，并对其进行综合分析后，评估未充分测试时出现时序问题的风险性；S4：根据评估结果，划分未充分测试时出现时序问题的风险等级，将其划分为高风险时序问题等级，中风险时序问题等级和低风险时序问题等级，并对其进行相应的处理；S5：对于中风险时序问题等级，对固定时间段内MCU控制车辆的稳定性进行预测，根据预测结果，确定是否进行重新测试和优化。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳市利和兴股份有限公司 一种汽车MCU自动测试方法及系统
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