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申请/专利权人：浜松光子学株式会社
摘要：试样支撑体是用于将试样电离的试样支撑体。试样支撑体具备：膜部，其具有第一表面及第一背面，形成有在第一表面及第一背面开口的多个贯通孔；支撑部，其针对膜部划定用于将试样电离的测定区域，且支撑膜部。支撑部包含：内侧部分，其具有第二表面及第二背面，固定有膜部；外侧部分，其具有第三表面及第三背面，沿着内侧部分的外缘延伸。在膜部的厚度方向上在第一表面的位置和第三表面的位置之间产生的差小于膜部的厚度。
主权项：1.一种试样支撑体，其中，是为了将试样电离而使用的试样支撑体，具备：膜部，其具有第一表面及第一背面，且形成有在所述第一表面及所述第一背面开口的多个贯通孔；支撑部，其针对所述膜部划定用于将所述试样电离的测定区域，且支撑所述膜部，所述支撑部包含：内侧部分，其具有第二表面及第二背面，固定有所述膜部；外侧部分，其具有第三表面及第三背面，沿着所述内侧部分的外缘延伸，所述内侧部分及所述外侧部分分别包含框架的一部分，所述外侧部分是由具有位于与能量线的焦点同一平面上的基准面的接合器保持的部分，在所述膜部的厚度方向上在所述第一表面的位置和所述第三表面的位置之间产生的差小于所述膜部的厚度。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 浜松光子学株式会社 试样支撑体、接合器、电离法及质量分析方法
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