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申请/专利权人：上海超捷芯软科技有限公司
摘要：本发明提供一种集成电路失效率敏感度分析方法、系统、设备及介质，包括：获取原电路，其具有若干设计参数；使原电路的其中一个设计参数变化一微小变化量得到一新电路；设定一组压扩因子，并针对每个压扩因子，分别基于缩放方差采样方法估计原电路的压扩失效率和压扩失效率的方差、以及新电路的压扩失效率和压扩失效率的方差；基于原电路、新电路的压扩失效率和压扩失效率的方差的全部估计结果，确定原电路失效率关于其中一个设计参数的敏感度系数的最优解；基于敏感度系数的最优解，确定原电路失效率关于其中一个设计参数的敏感度。本发明能够在有限的计算成本内，准确估计集成电路的极低失效率相对于电路设计参数的敏感度。
主权项：1.一种集成电路失效率敏感度分析方法，其特征在于，包括：获取原电路C，所述原电路C具有若干设计参数；使所述原电路C的其中一个设计参数wd变化一微小变化量，以得到一新电路Cdnew；设定一组压扩因子{sq;q=1,2,…,Q}，并针对每个所述压扩因子sq，分别基于缩放方差采样方法估计所述原电路C的压扩失效率和压扩失效率的方差、以及所述新电路的压扩失效率和压扩失效率的方差；基于所述原电路C的压扩失效率和压扩失效率的方差、以及所述新电路Cdnew的压扩失效率和压扩失效率的方差的Q个估计结果，确定所述原电路C的失效率关于所述其中一个设计参数wd的敏感度系数的最优解；基于所述敏感度系数的最优解，确定所述原电路C的失效率关于其中一个设计参数wd的敏感度。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海超捷芯软科技有限公司 集成电路失效率敏感度分析方法、系统、设备及介质
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