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申请/专利权人：中国科学院光电技术研究所
摘要：本发明涉及一种涡旋光束阵列拓扑荷数的测量方法和系统。本发明利用像散相位将涡旋光束阵列转换为厄米‑高斯光束阵列，并得到了输入面涡旋光束与输出面厄米‑高斯光束的空间位置对应关系，通过对应位置上的厄米‑高斯光束的暗条纹的数量和方向，来得到涡旋光束阵列的拓扑荷数信息。本发明高效简单，而且还可以测量大阵列涡旋光束的拓扑荷数。
主权项：1.一种涡旋光束阵列拓扑荷数的测量方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：步骤1：激光器发射基模高斯光束，并使用第一空间光调制器加载螺旋相位阵列，将其转换为涡旋光束阵列；步骤2：在第二空间光调制器上加载像散相位，将生成的所述涡旋光束阵列转换为厄米-高斯光束阵列；步骤3：使用CCD采集转换得到的所述厄米-高斯光束阵列，然后用计算机分析光场分布，并根据涡旋光束阵列与厄米-高斯光束阵列的空间位置映射关系，求得涡旋光束阵列的拓扑荷数信息；其中，所述空间位置映射关系根据所述像散相位建立；位置映射关系表示为如下： 为涡旋光束，为厄米-高斯光束；x,y是输入面的空间直角坐标，i,j分别表示涡旋光束阵列的维度，xi,yj分别是涡旋光束在x和y方向上的偏移量；ξ,η是输出面空间的直角坐标，a是像散相位的常系数，θ是像散相位的角度；在不同角度的像散相位下，通过分析对应位置上的厄米-高斯光束的光场分布，即得到涡旋光束的拓扑荷数。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院光电技术研究所 一种涡旋光束阵列拓扑荷数的测量方法和系统
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