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应用于验证元器件可靠性的测试装置和方法 

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申请/专利权人:中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

摘要:本申请涉及一种应用于验证元器件可靠性的测试装置和方法。本申请所述的应用于验证元器件可靠性的测试装置,包括元器件可靠性测试夹具和高低温循环箱,元器件可靠性测试夹具放置于所述高低温循环箱内,元器件可靠性测试夹具包括底座、盖板、连接柱、紧固件和弹性件,盖板和底座间隔设置,底座和盖板之间的间隙用于放置待测元器件。连接柱包括第一端和第二端,第一端安装于底座的第一安装孔,第二端贯穿盖板的第二安装孔设置,紧固件可活动地安装于连接柱的第二端。弹性件设置于连接柱的第二端,弹性件两端分别抵接紧固件,以及盖板或底座。本申请所述的应用于验证元器件可靠性的测试装置和方法具有集成度高、测试效率高、测试准确度高的优点。

主权项:1.一种应用于验证元器件可靠性的测试装置,其特征在于,包括:元器件可靠性测试夹具(10),所述元器件可靠性测试夹具(10)包括底座(100)、盖板(200)、连接柱(300)、紧固件(400)和弹性件(500),所述底座(100)设有第一安装孔(110),所述盖板(200)设有第二安装孔(210),所述盖板(200)和所述底座(100)间隔设置,所述底座(100)和所述盖板(200)之间的间隙用于放置待测元器件;所述连接柱(300)包括第一端(310)和第二端(320),所述第一端(310)安装于所述第一安装孔(110),所述第二端(320)贯穿所述第二安装孔(210)设置,或者,所述第一端(310)安装于所述第二安装孔(210),所述第二端(320)贯穿所述第一安装孔(110)设置;所述紧固件(400)可活动地安装于所述连接柱(300)的第二端(320);所述弹性件(500)设置于所述连接柱(300)的第二端(320),所述弹性件(500)的一端抵接所述紧固件(400),所述弹性件(500)的另一端抵接所述盖板(200)或所述底座(100);高低温循环箱(20),所述元器件可靠性测试夹具(10)放置于所述高低温循环箱(20)内。

全文数据:

权利要求:

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