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一种压敏电阻器的老化性能测试方法 

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申请/专利权人:汕头保税区松田电子科技有限公司

摘要:本发明涉及数据处理技术领域,具体涉及一种压敏电阻器的老化性能测试方法;包括:获取压敏电阻器在一定时间内受电流冲击的每次功耗数据和受电流冲击的数量;基于每次功耗数据、受电流冲击的数量和预设指数阈值,获取每次遭受冲击电流的应对能力系数;基于每次遭受冲击电流的应对能力系数、预设应对能力系数阈值、在一定时间内受电流冲击的每次功耗数据和受电流冲击的数量,获取压敏电阻器的性能老化指数;基于压敏电阻器的性能老化指数、每次遭受冲击电流的应对能力系数和受冲击电流的次数,对压敏电阻器进行检测,得到检测结果。本发明的目的是解决现有的测试方法存在滞后性,对压敏电阻器检测的准确性低的技术问题。

主权项:1.一种压敏电阻器的老化性能测试方法,其特征在于,所述方法包括:获取压敏电阻器在一定时间内受电流冲击的每次功耗数据和受电流冲击的数量;基于所述压敏电阻器在一定时间内受电流冲击的每次功耗数据、受电流冲击的数量和预设指数阈值,获取每次遭受冲击电流的应对能力系数;基于所述每次遭受冲击电流的应对能力系数、预设应对能力系数阈值、在一定时间内受电流冲击的每次功耗数据和受电流冲击的数量,获取压敏电阻器的性能老化指数;基于所述压敏电阻器的性能老化指数、每次遭受冲击电流的应对能力系数和受冲击电流的次数,对压敏电阻器进行检测,得到检测结果。

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权利要求:

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