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申请/专利权人：武汉奇克微电子技术有限公司

摘要：本发明公开了一种电阻片外观缺陷检测方法及系统，涉及电阻片缺陷检测技术领域，包括图像获取端、识别端、图像分析端、异常标记生成模块和偏差标记生成模块；解决了在对电阻片印刷层进行制作的过程中，如果某一层的印刷位置印刷错误或印刷有残缺，则导致贴片电阻的某个结构位置偏离，造成电阻片印刷层存在缺陷的技术问题；通过对比印刷层顶层和底层各边线之间的距离，判定生成异常标记，当生成异常标记时说明印刷层发生倾斜，即说明印刷层的印刷位置偏离，通过这种方法可以自动检测印刷层的存在的质量缺陷，并在检测到潜在的质量问题时提供即时反馈，这对于维护印刷质量标准和减少生产过程中的浪费至关重要。

主权项：1.一种电阻片外观缺陷检测系统，其特征在于，包括：图像获取端，获取电阻片印刷层的顶层和底层图像；识别端，识别顶层和底层图像中的边线，获得印刷层的顶层图像和底层图像边线；图像分析端，对印刷层的顶层图像和底层图像对应边线之间的距离进行获取，并对其距离进行分析，根据分析结果判定生成各个边线的判定距离；异常标记生成模块，将计算出的每两个对应边线之间的判定距离与预设的阈值进行比较，对异常边线进行标记，同时获取异常边线对应的数量，对其数量进行分析，进而判定生成异常标记；偏差标记生成模块，对印刷层图像边线与基板图像边线是否平行进行判定，并根据判定结果生成一级偏差标记、二级偏差标记或三级偏差标记；图像分析端中包括坐标变换单元、坐标提取单元和判定距离计算单元；坐标变换单元，用于将印刷层顶层和底层图像的边线映射到一个共同的二维平面内，并进行匹配，默认基板、印刷层顶层和底层均为四边形；坐标提取单元，用于对顶层图像边线和底层图像边线分别在二维平面内的四个顶点坐标分别进行提取；判定距离计算单元，用于根据顶层图像边线和底层图像边线分别在二维平面内的四个顶点坐标，计算顶层图像边线和底层图像对应的边线之间的判定距离；对顶层图像边线和底层图像边线分别在二维平面内的四个顶点坐标分别进行提取的具体方式为：将获取到的顶层图像边线上的四个顶点坐标分别标记为TAi（Axi，Ayi）；将获取到的顶层图像边线上的四个顶点坐标分别标记为TBi（Bxi，Byi）；其中i的取值为4≥i≥1，同时将i作为各个顶点分别对应的顶点标号，TAi（Axi，Ayi）和TBi（Bxi，Byi）根据顶点标号一一对应；计算顶层图像边线和底层图像对应的边线之间的判定距离的具体方式为：获得顶层图像边线和底层图像对应边线上的顶点坐标，分别计算位于顶层图像和底层图像对应边线上的两个对应顶点之间的距离，然后再获取两个距离之间的均值将其作为对应边线的判定距离，进而获得两个对应边线之间的判定距离，以此类推，即可获得每两个对应边线之间的判定距离。

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