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申请/专利权人：湖南龙智新材料科技有限公司

摘要：本发明涉及电解铜箔技术领域，公开了一种参数实时调节的电解铜箔生产工艺，获取铜箔的电解生产项目计划和电解生产参数，生成电解生产参数序列；获取与电解生产项目计划对应的历史电解生产行为，对历史电解生产行为进行分析，计算铜箔的参数调节因子；根据参数调节因子判断是否需要对电解生产参数进行调节，若是，则设定铜箔的电解生产参数调节系数，根据电解生产参数调节系数对电解生产参数进行调节，得到目标电解生产参数序列；基于电解生产设备对目标电解生产参数序列进行一键输入，对铜箔进行电解生产，可以对电解生产参数进行智能化设定以及调节，对电解生产参数进行一键输入，电解生产更加效率，减少因人为错误操作造成的经济损失。

主权项：1.一种参数实时调节的电解铜箔生产工艺，其特征在于，包括：获取铜箔的电解生产项目计划，根据所述电解生产项目计划确定对应的电解生产参数，并生成电解生产参数序列R，其中，R={r1，r2，r3，...，rn1}，n1为电解生产参数的总数量；获取与所述电解生产项目计划对应的所有历史电解生产行为，对所有的历史电解生产行为进行分析，并基于分析结果计算所述铜箔的参数调节因子；根据所述参数调节因子判断是否需要对电解生产参数进行调节，若是，则基于所述参数调节因子设定所述铜箔的电解生产参数调节系数，并根据所述电解生产参数调节系数对电解生产参数进行调节，得到目标电解生产参数序列；将目标电解生产参数序列进行一键输入，并对所述铜箔进行电解生产；在获取与所述电解生产项目计划对应的所有历史电解生产行为，并对所有的电解生产行为进行分析，并基于分析结果计算所述铜箔的参数调节因子时，包括：对所有的历史电解生产行为进行分析，确定所有的超额电解生产参数和欠缺电解生产参数；根据所有的超额电解生产参数生成超额电解生产参数集合，并根据所有的欠缺电解生产参数生成欠缺电解生产参数集合；对所述超额电解生产参数集合中的超额电解生产参数进行同类型分类处理，并得到多个超额同类型参数集合；对每一个超额同类型参数集合生成超额分类标识，并根据超额分类标识生成超额电解生产参数序列D，其中，D={d1，d2，d3，...，dn2}，n2为超额分类标识的总数量；对所述欠缺电解生产参数集合中的欠缺电解生产参数进行同类型分类处理，并得到多个欠缺同类型参数集合；对每一个欠缺同类型参数集合生成欠缺分类标识，并根据欠缺分类标识生成欠缺电解生产参数序列E，其中，E={e1，e2，e3，...，en3}，n3为欠缺分类标识的总数量；计算所有超额同类型参数集合中超额同类型参数的第一平均值，并生成第一平均值集合；计算所有欠缺同类型参数集合中欠缺同类型参数的第二平均值，并生成第二平均值集合；根据所述第一平均值集合和所述第二平均值集合计算所述铜箔的第一参数调节因子w1；对所述超额同类型参数集合和所述欠缺同类型参数集合进行分析，并基于分析结果计算所述铜箔的第二参数调节因子w2；计算所述第一参数调节因子w1和所述第二参数调节因子w2的参数调节因子和值w，并将所述参数调节因子和值w作为所述铜箔的参数调节因子；根据下式计算所述铜箔的第一参数调节因子w1： ，其中，x1i为第一平均值集合中第i个第一平均值，x1为电解生产参数序列R中与第i个第一平均值相对应的电解生产参数，x2i为第二平均值集合中第i个第二平均值，x2为电解生产参数序列R中与第i个第二平均值相对应的电解生产参数；在对所述超额同类型参数集合和所述欠缺同类型参数集合进行数值分析，并基于分析结果计算所述铜箔的第二参数调节因子w2时，包括：对所有超额同类型参数集合中的超额同类型参数进行数值大小比较，并提取出多个最大超额同类型参数；对所有欠缺同类型参数集合中的欠缺同类型参数进行数值大小比较，并提取出多个最小欠缺同类型参数；根据所有的最大超额同类型参数和所有的最小欠缺同类型参数计算所述铜箔的第二参数调节因子w2；根据下式计算所述铜箔的第二参数调节因子w2： ，其中，n4为最大超额同类型参数的总数量，si为第i个最大超额同类型参数，s1i为电解生产参数序列R中与第i个最大超额同类型参数相对应的电解生产参数，ai为与第i个最大超额同类型参数对应的权重，t1为第一计算转换系数，n5为最小欠缺同类型参数的总数量，qi为第i个最小欠缺同类型参数，q1i为电解生产参数序列R中与第i个最小欠缺同类型参数相对应的电解生产参数，pi为与第i个最小欠缺同类型参数对应的权重，t2为第二计算转换系数，且t1+t2=1，t1t2。

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