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申请/专利权人：济南快谱光电技术有限公司
摘要：本发明公开一种晶体检测方法，应用于晶体检查装置，属于晶体检测技术领域。晶体检测装置包括：检测舱；光源组件，其照射的光线射入检测腔；单色光板，其位于检测舱与光源组件之间；光镜，位于检测舱背离光源组件的一侧，并与单色光板形成偏振态正交。晶体检测方法包括：S1、选择待检晶体，确定其折射率；S2、配制与待检晶体折射率相同的苯类溶液；S3、将待检晶体放入检测腔中，并使配制好的苯类溶液浸没晶体；S4、打开光源，观察晶体的质量区域；S5、排出苯类溶液，对晶体的质量区域进行划分，然后再次将苯类溶液浸没晶体，对划分区域进行复检；S6、完成检测。解决了当前的晶体检测需要对不规则晶体进行预加工的技术问题，提高了晶体检测效率。
主权项：1.一种晶体检测方法，应用于晶体检测装置，其特征在于，所述晶体检测装置包括：检测舱100，所述检测舱100开设具有开口的检测腔；光源组件200，所述光源组件200照射的光线射入所述检测腔；单色光板300，其位于所述检测舱100与所述光源组件200之间，光线穿过所述单色光板300射入所述检测腔；光镜400，所述光镜400位于所述检测舱100背离所述光源组件200的一侧，所述光镜400与所述单色光板300形成偏振态正交，且所述光镜400上设置有分格板410；所述晶体检测方法包括：S1、选择待检晶体，确定其折射率；S2、配制与待检晶体折射率相同的苯类溶液；S3、将待检晶体放入检测腔中，并使配制好的苯类溶液浸没晶体；S4、打开光源，观察晶体的质量区域；S5、排出苯类溶液，对晶体的质量区域进行划分，然后再次将苯类溶液浸没晶体，对划分区域进行复检；S6、完成检测。
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百度查询： 济南快谱光电技术有限公司 一种晶体检测方法
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