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申请/专利权人:济南快谱光电技术有限公司
摘要:本发明公开一种晶体检测方法,应用于晶体检查装置,属于晶体检测技术领域。晶体检测装置包括:检测舱;光源组件,其照射的光线射入检测腔;单色光板,其位于检测舱与光源组件之间;光镜,位于检测舱背离光源组件的一侧,并与单色光板形成偏振态正交。晶体检测方法包括:S1、选择待检晶体,确定其折射率;S2、配制与待检晶体折射率相同的苯类溶液;S3、将待检晶体放入检测腔中,并使配制好的苯类溶液浸没晶体;S4、打开光源,观察晶体的质量区域;S5、排出苯类溶液,对晶体的质量区域进行划分,然后再次将苯类溶液浸没晶体,对划分区域进行复检;S6、完成检测。解决了当前的晶体检测需要对不规则晶体进行预加工的技术问题,提高了晶体检测效率。
主权项:1.一种晶体检测方法,应用于晶体检测装置,其特征在于,所述晶体检测装置包括:检测舱100,所述检测舱100开设具有开口的检测腔;光源组件200,所述光源组件200照射的光线射入所述检测腔;单色光板300,其位于所述检测舱100与所述光源组件200之间,光线穿过所述单色光板300射入所述检测腔;光镜400,所述光镜400位于所述检测舱100背离所述光源组件200的一侧,所述光镜400与所述单色光板300形成偏振态正交,且所述光镜400上设置有分格板410;所述晶体检测方法包括:S1、选择待检晶体,确定其折射率;S2、配制与待检晶体折射率相同的苯类溶液;S3、将待检晶体放入检测腔中,并使配制好的苯类溶液浸没晶体;S4、打开光源,观察晶体的质量区域;S5、排出苯类溶液,对晶体的质量区域进行划分,然后再次将苯类溶液浸没晶体,对划分区域进行复检;S6、完成检测。
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