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一种硫沉积储层伤害时空分布特征预测方法 

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申请/专利权人:中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司西南油气分公司

摘要:本发明公开了一种硫沉积储层伤害时空分布特征预测方法,涉及高含硫气藏开发技术领域,结合待预测的气井所在地层的地质特征,构建该地层中的元素硫溶解模型,并根据元素硫在该地层条件下的析出压力,确定该地层中硫沉积状态和开始出现硫析出的时间;并通过硫析出沉积在地层中的量与地层的气相相对渗透率的关系,预测硫沉积对待预测气井所在地层的伤害程度。该预测方法不仅可以预测高含硫气井随着开采导致地层压力下降后出现硫沉积的时间,还可以预测位于不同位置的硫沉积对储层伤害程度,明确了不同礁带硫沉积储层伤害随空间及时间的动态变化特征,为硫沉积阶段开发政策调整提供了科学指导,同时为气藏稳定生产提供了技术支撑。

主权项:1.一种硫沉积储层伤害时空分布特征预测方法,其特征在于,包括以下步骤:获得气井控制储层的单质硫流体相图,并从所述单质硫流体相图获取所述气井控制储层温度条件下的硫析出压力Ps及析出状态;测量所述气井控制储层的气样硫溶解量和地层饱和单质硫含量;基于所述单质硫流体相图和所述气井控制储层的气样硫溶解量和地层饱和单质硫含量,建立所述气井控制储层的元素硫溶解模型;通过单质硫岩心驱替实验获得单质硫的硫饱和度Ss,并根据岩芯驱替实验的参数,获得不同参数条件下获得的硫饱和度Ss对应的气相相对渗透率Krg;基于封闭定容气藏物质平衡方程获得所述气井控制储层的平均地层压力P与所述气井控制储层的气井累积产气量Q的关系;基于元素硫溶解模型、不同参数条件下获得的硫饱和度Ss对应的气相相对渗透率Krg和所述气井控制储层的平均地层压力P与所述气井控制储层的气井累积产气量Gp的关系,建立所述气井控制储层的硫沉积储层伤害时空变化规律预测模型;根据所述硫沉积储层伤害时空变化规律预测模型预测所述气井控制储层出现硫沉积的时间和位置、硫沉积程度;其中,所述硫饱和度Ss与气相相对渗透率Krg的对应关系满足以下表达式:Krg=krgiexpαSs1式中:α—回归参数;krgi—气相相对渗透率最大端点值;所述硫饱和度Ss与所述岩芯驱替实验的参数的关系式为: 其中,p表示井筒内压力,MPa;q表示产气量,m3d;h表示储层厚度,m;r表示径向半径,即气井控制半径以内的储层到气井井底的距离,m;μ表示流体黏度,mPa.s;k表示储层渗透率,m2;表示受紊流影响的系数,m-1;ρ表示流体密度,kgm3;γg表示气体相对密度,无量纲;R表示摩尔气体常数,无量纲;Z表示气体偏差因子,无量纲;T表示气体绝对温度,K;qsc表示标准状态下的气井产气量;swi表示束缚水饱和度,无量纲;ρs表示液相硫的密度,kgm3;Bg表示气体体积系数,无量纲;所述气井的平均地层压力P与所述气井控制储层的全部气井的气井累积产气量Gp的关系为: 其中,地层压力P下气体偏差因子Z的表达式为: 其中,Q—气井平均产气量;G—气井控制储量;Gp—气井控制储层累计产气量;P—气井累积产气量Gp时的平均地层压力;MPa;Pi—地层静压力;MPa;Zi—平均地层压力为Pi下气体偏差因子;Z—平均地层压力为P下气体偏差因子;所述硫沉积储层伤害时空变化规律预测模型具体为: 式中:t—累计生产时间;t0—地层半径为r处地层压力平均P低于硫析出压力Ps的时间;r—硫沉积储层距离气井的距离;krgi—气相相对渗透率最大值;ε、ζ—相关参数,其值分别通过以下公式计算: 其中,p表示井筒内压力,MPa;q表示产气量,m3d;h表示储层厚度,m;μ表示流体黏度,mPa.s;k表示储层渗透率,m2;β表示受紊流影响的系数,m-1;ρ表示流体密度,kgm3;M—硫溶解度表达式的拟合回归常数;R表示摩尔气体常数,无量纲;Z表示气体偏差因子,无量纲;T表示气体绝对温度,K;qsc表示标准状态下的气井产气量;swi表示束缚水饱和度,无量纲;ρs表示液相硫的密度,kgm3;Bg表示气体体积系数,无量纲;φ表示孔隙度,无量纲。

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