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申请/专利权人：杭州大华仪器制造有限公司
摘要：本实用新型公开了一种数控普朗克常数测量装置，其特征是包括控制系统、与控制系统连接且处于同一轴向的光源箱、测试箱和光谱调节组件，所述的光谱调节组件包括箱体、安装在箱体内被控制系统控制的电机、安装在电机上被电机驱动旋转的进光调节环和滤光片调节环，所述的箱体上分别安装有与进光调节环和滤光片调节环相对称的进光管和出光管，所述的进光调节环上设有若干个不同孔径的进光孔，所述的滤光片调节环上设有若干个不同的滤光片；通过本装置的设置，利用控制系统来驱动电机来切换滤光片或进光孔，无需手动接触，提升了实验的检测效率；另一方面电机切换可以实现精准定位，从而提升了实验数据的测量精度。
主权项：1.一种数控普朗克常数测量装置，其特征是包括控制系统（1）、与控制系统（1）连接且处于同一轴向的光源箱（2）、测试箱（3）和光谱调节组件（4），所述的光谱调节组件包括箱体（40）、安装在箱体（40）内被控制系统（1）控制的电机（41）、安装在电机（41）上被电机（41）驱动旋转的进光调节环（42）和滤光片调节环（43），所述的箱体（40）上分别安装有与进光调节环（42）和滤光片调节环（43）相对称的进光管（44）和出光管（45），所述的进光调节环（42）上设有若干个不同孔径的进光孔（46），所述的滤光片调节环（43）上设有若干个不同的滤光片（47）。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 杭州大华仪器制造有限公司 一种数控普朗克常数测量装置
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