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申请/专利权人：科城精铜(广州)有限公司
摘要：本发明公开了一种判断铜线材剩余电阻率的方法，包括如下步骤：首先将直径为8mm的铜杆冷拉拔为2.6mm的铜线，并经退火处理；然后将得到的铜线沿轴向切割、机械研磨和电解抛光制得电子背散射衍射分析样品；再置于扫描电镜中进行电子背散射衍射分析，得到分析数据；将分析数据导入配套软件，对分析数据进行处理，输出晶界图及晶粒等径圆分布图；利用步骤S4中输出的晶粒等径圆分布图的数据计算晶粒尺寸大于或等于6μm的晶粒个数与总晶粒数的比值；S6.当步骤S5的比值大于或等于0.4时，即可判断铜线的剩余电阻率大于550。通过这种检测方法可以方便快捷地判断出铜线材的剩余电阻率的大小，确保将剩余电阻率大于550的铜材给到客户。
主权项：1.一种判断铜线材剩余电阻率的方法，其特征在于，包括如下步骤：S1.将直径为8mm的铜杆冷拉拔为2.6mm的铜线，并经退火处理；S2.将步骤S1经退火处理后得到的铜线沿轴向切割、机械研磨和电解抛光制得电子背散射衍射分析样品；S3.将步骤S2得到的电子背散射衍射分析样品置于扫描电镜中进行电子背散射衍射分析，得到分析数据；S4.将步骤S3中扫描电镜收集到的分析数据导入配套软件，对分析数据进行处理，输出晶界图及晶粒等径圆分布图；S5.利用步骤S4中输出的晶粒等径圆分布图的数据计算晶粒尺寸大于或等于6μm的晶粒个数d6与总晶粒数d总的比值；S6.当步骤S5中的比值d6d总大于或等于0.4时，即可判断铜线的剩余电阻率大于550；所述步骤S4中的分析数据导入配套软件，对分析数据进行处理，具体操作如下；将晶界取向差大于15°的晶界定义为大角度晶界，取向差范围在2°-15°的晶界定义为小角度晶界，取向差范围在55°-65°的晶界为孪晶界，将排除了孪晶界的大角度晶界形成封闭区域的面积定义为晶粒面积，并采用等效圆直径的方法换算为晶粒的尺寸，将形成封闭区域的数量定义为总晶粒数。
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权利要求：
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