买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

申请/专利权人：惠州艺都宇正数码科技有限公司

摘要：本发明涉及图像处理技术领域，提出了一种OCA光学薄膜表面缺陷视觉检测方法及系统，包括：对光学薄膜灰度图像进行分割获取感兴趣区域；获取感兴趣区域的区域粘连率，获取第一感兴趣区域和第二感兴趣区域；获取第二感兴趣区域的拟合曲线，从而获取区域纹路离散度；获取拟合曲线上像素点的曲率，从而获取第二感兴趣区域的贝塞尔曲线参差度；根据区域纹路离散度和贝塞尔曲线参差度获取区域纹路存在指数，从而获取缺陷区域；根据拟合曲线曲率获取拟合曲线曲率均值，通过直线检测获取纹路直度，根据纹路直度和拟合曲线曲率均值获取缺陷分类指标，获取划痕缺陷区域和气泡缺陷区域。本发明旨在解决OCA光学薄膜表面缺陷检测漏检误检问题。

主权项：1.一种OCA光学薄膜表面缺陷视觉检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：获取OCA光学薄膜表面的灰度图像，将灰度图像进行阈值分割获取感兴趣区域；获取感兴趣区域的区域粘连率；根据区域粘连率获取第一感兴趣区域和第二感兴趣区域；获取第二感兴趣区域的拟合曲线，根据拟合曲线获取第二感兴趣区域的区域纹路离散度；获取所述拟合曲线上每个像素点的曲率，根据曲率获取第二感兴趣区域的贝塞尔曲线参差度；根据区域纹路离散度和贝塞尔曲线参差度获取区域纹路存在指数；根据区域纹路存在指数获取缺陷区域；根据拟合曲线曲率获取拟合曲线曲率均值，对所述缺陷区域进行直线检测，获取纹路直度，根据所述纹路直度和拟合曲线曲率均值获取缺陷分类指标；根据缺陷分类指标获取划痕缺陷区域和气泡缺陷区域；所述获取第二感兴趣区域的拟合曲线，根据拟合曲线获取第二感兴趣区域的区域纹路离散度，包括：获取第二感兴趣区域的拟合曲线，将所述拟合曲线上的像素点记为第一曲线像素点，将第一曲线像素点在曲线上的法线记为第一法线；将第二感兴趣区域中的像素点记为第二区域像素点；将第一曲线像素点在第一法线上与第二区域像素点的最小欧氏距离作为曲线偏移量，其中，若第一法线上无所述第二感兴趣区域中的像素点，则曲线偏移量为第二预设阈值；将所述曲线偏移量的均值记为所述区域纹路离散度的值；所述获取所述拟合曲线上每个像素点的曲率，根据曲率获取第二感兴趣区域的贝塞尔曲线参差度，包括：将所述拟合曲线上所有像素点的曲率的均方差的值记为贝塞尔曲线参差度；所述根据区域纹路离散度和贝塞尔曲线参差度获取区域纹路存在指数，包括：对所述贝塞尔曲线参差度进行归一化处理，获取归一化贝塞尔曲线参差度；将区域纹路离散度与第一常数的差值记为第一差值，将以自然常数为底数、第一差值为指数的幂记为第一指数；将第一指数与归一化贝塞尔曲线参差度乘积记为区域纹路存在指数；所述根据拟合曲线曲率获取拟合曲线曲率均值，对所述缺陷区域进行直线检测，获取纹路直度，根据所述纹路直度和拟合曲线曲率均值获取缺陷分类指标，包括：获取拟合曲线上像素点曲率的均值；对缺陷区域使用直线检测，获取角度差值小于第四预设阈值的直线的个数；将所述角度差值小于第四预设阈值的直线的个数记为第二感兴趣区域中缺陷区域的纹路直度；将数字1与所述曲线曲率均值的差值记为第二差值，将纹路直度与第二差值的乘积记为缺陷分类指标。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 惠州艺都宇正数码科技有限公司 一种OCA光学薄膜表面缺陷视觉检测方法及系统