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申请/专利权人：深圳市海创超能科技有限公司
摘要：本实用新型公开了一种IC芯片测试装置，包括测试台，所述测试台顶部中间位置开设有矩形孔，所述测试台中间处开设有安装孔，所述安装孔内侧底部固定连接有微型电动推杆，所述微型电动推杆顶部固定连接有横板，所述横板顶部开设有T型滑槽，所述T型滑槽中对称滑动连接有T型板，两个所述T型板顶部均贯穿矩形孔，两个所述T型板顶部相靠近的一侧均固定连接有压块，两个所述T型板位于安装孔内的两侧均固定连接有滑杆。本实用新型,实现了工作人员在对IC芯片进行测试的时候，无需用力按压IC芯片，实现针脚的固定，同时测试后也无需用力拨出IC芯片，IC芯片自动弹出来，提高了测试效率，同时降低了用户的手指劳动强度的技术效果。
主权项：1.一种IC芯片测试装置，包括测试台1，其特征在于，所述测试台1顶部中间位置开设有矩形孔，所述测试台1中间处开设有安装孔101，所述安装孔101内侧底部固定连接有微型电动推杆5，所述微型电动推杆5顶部固定连接有横板6，所述横板6顶部开设有T型滑槽601，所述T型滑槽601中对称滑动连接有T型板7，两个所述T型板7顶部均贯穿矩形孔，两个所述T型板7顶部相靠近的一侧均固定连接有压块701，两个所述T型板7位于安装孔101内的两侧均固定连接有滑杆9，所述安装孔101顶部两侧两端均固定连接有侧板10，每个所述侧板10上均开设有异形孔11，每个所述滑杆9均滑动连接在相靠近的异形孔11中。
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百度查询： 深圳市海创超能科技有限公司 一种IC芯片测试装置
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