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申请/专利权人:江苏凯讯新材料有限公司
摘要:本发明公开一种芯片散热部件的导热性能测试装置及方法,涉及电子封装技术领域,装置包括:支撑板、冷却座、发热座、绝热座、发热电阻、热电偶及加热电源;冷却座及绝热座相对设置在支撑板上;绝热座上开设有容纳发热座的空间;发热座与冷却座相对的一侧开设有第一卡槽;冷却座与发热座相对的一侧开设有第二卡槽;芯片散热部件放置在第一卡槽与第二卡槽之间;发热座上还开设有容纳发热电阻及热电偶的空间;加热电源在测试过程中对发热电阻施加电压,使发热电阻发热;热电偶在测试过程中实时采集发热座的温度,以根据发热座的温度确定芯片散热部件的导热性能。本发明可对芯片散热部件进行无损检测,并提高了芯片散热部件导热性能的测试效率。
主权项:1.一种芯片散热部件的导热性能测试装置,其特征在于,所述芯片散热部件的导热性能测试装置包括:支撑板、冷却座、发热座、绝热座、发热电阻、热电偶及加热电源;所述冷却座及所述绝热座相对设置在所述支撑板上;所述绝热座上开设有容纳所述发热座的空间;所述发热座与所述冷却座相对的一侧开设有第一卡槽;所述冷却座与所述发热座相对的一侧开设有第二卡槽;所述芯片散热部件放置在所述第一卡槽与所述第二卡槽之间;所述发热座上还开设有容纳所述发热电阻及所述热电偶的空间;所述加热电源用于在测试过程中对所述发热电阻施加电压,使所述发热电阻发热;所述热电偶用于在测试过程中实时采集所述发热座的温度,以根据所述发热座的温度确定所述芯片散热部件的导热性能。
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