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申请/专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
摘要：本发明提供一种存储芯片的分级方法及分级系统，属于存储技术领域。所述存储芯片的分级方法包括以下步骤：对存储芯片进行擦写，并获取每批所述存储芯片的闪存阈值电压宽度；将所有所述存储芯片依照所述闪存阈值电压宽度，按预设比例分级；对每个级别中的所述存储芯片进行验证；调整每个所述存储芯片的分级时的预设比例，获取每个级别中所述存储芯片对应的最佳闪存阈值电压宽度，并将所述最佳闪存阈值电压宽度作为每个级别的分级标准；以及依据所述分级标准对所述存储芯片进行分级。通过本发明提供的存储芯片的分级方法及分级系统，可提高存储芯片分级的准确性。
主权项：1.一种存储芯片的分级方法，其特征在于，至少包括以下步骤：对存储芯片进行擦写，并获取每批所述存储芯片的闪存阈值电压宽度；将所有所述存储芯片依照所述闪存阈值电压宽度，按预设比例分级；对每个级别中的所述存储芯片进行验证；调整每个所述存储芯片的分级时的预设比例，获取每个级别中所述存储芯片对应的最佳闪存阈值电压宽度，并将所述最佳闪存阈值电压宽度作为每个级别的分级标准；以及依据所述分级标准对所述存储芯片进行分级。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 合肥康芯威存储技术有限公司 一种存储芯片的分级方法及分级系统
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