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申请/专利权人：瑞芯智造(深圳)科技有限公司
摘要：本发明提供了一种颗粒样本分析方法、分析装置及其应用。具体的，该分析方法包括获取颗粒样本的测定信号段，并对测定信号段中每个峰值信号进行有效性分析，并保留的各个有效性的峰值信号。同时基于上述方法提供了一种颗粒样本分析装置。该分析方法可对测定信号段中的各个峰值信号进行进一步的分析判断，过滤掉震荡干扰事件等的影响，使得得到的颗粒检测信号更加准确。根据上述方法得到的处理装置引入仪器中可进一步提高仪器的抗干扰能力，提升检测数据的准确性。
主权项：1.一种颗粒样本的分析方法，其特征在于，包括：获取颗粒样本的测定信号段，所述测定信号段为样本中颗粒通过检测区域测定获得；获取所述测定信号段中的各个峰值信号，并对每个峰值信号进行有效性分析；其中，对每个峰值信号进行有效性分析包括：获取当前待分析的峰值信号；获取当前待分析的峰值信号的前一个有效性的峰值信号；判断当前待分析的峰值信号及其前一个有效性的峰值信号，两者是否满足预设的时间有效性条件；若满足时间有效性条件，则将当前待分析的峰值信号作为一个有效性的峰值信号进行保留，并继续对所述测定信号段中下一个峰值信号进行有效性分析；若不满足时间有效性条件，则根据预设筛选规则进行判断，将当前待分析的峰值信号及其前一个有效性的峰值信号中的至少一者作为有效性的峰值信号进行保留，并继续对所述测定信号段中下一个峰值信号进行有效性分析；在完成所述测定信号段中最后一个峰值信号的有效性分析后，获取所保留的各个有效性的峰值信号。
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权利要求：
百度查询： 瑞芯智造(深圳)科技有限公司 颗粒样本分析方法、分析装置及其应用
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