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申请/专利权人：深圳市恒久瑞电子科技有限公司
摘要：本申请提供了一种In‑Cell液晶显示模组的测试数据校正方法及相关设备，获取历史测试数据；确定目标液晶显示屏触摸测试时触摸点滑动响应过程中的响应趋势余量，根据响应趋势余量从所述历史测试数据提取得到测试样本特征数据；获取当前测试数据，确定测试数据拟合时拟合残差的重合频数，基于重合频数对测试样本特征数据与测试数据进行滑动匹配，得到所述测试数据中各个测试值对应的测试匹配块组；确定各个测试匹配块组中匹配块间最小的测试极差分量和最大的测试极差分量，进而得到各个测试值的测试校正系数；基于各个测试校正系数对所述测试数据中对应的测试值进行校正，进而得到校正后的测试数据，可实现对触摸点残余移动影响下的测试数据的校正。
主权项：1.一种In-Cell液晶显示模组的测试数据校正方法，其特征在于，包括如下步骤：获取In-Cell液晶显示模组中目标液晶显示屏触摸测试时的历史测试数据；确定目标液晶显示屏触摸测试时触摸点滑动响应过程中的响应趋势余量，进而根据所述响应趋势余量从所述历史测试数据中提取得到测试样本特征数据；获取当前目标液晶显示屏在触摸测试时的测试数据，确定所述测试数据拟合时拟合残差的重合频数，基于所述重合频数对所述测试样本特征数据与所述测试数据进行滑动匹配，得到所述测试数据中各个测试值对应的测试匹配块组；选取一个测试值对应的测试匹配块组，确定所述测试匹配块组中匹配块间最小的测试极差分量和最大的测试极差分量，进而根据所述最小的测试极差分量和所述最大的测试极差分量确定该个测试值的测试校正系数，继续确定剩余测试值的测试校正系数；基于各个测试校正系数对所述测试数据中对应的测试值进行校正，进而得到校正后的测试数据。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳市恒久瑞电子科技有限公司 一种In-Cell液晶显示模组的测试数据校正方法及相关设备
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