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申请/专利权人：无锡中微亿芯有限公司
摘要：本申请公开了一种基于传输通道的s参数提取TDR阻抗曲线的方法，涉及电子电路领域，该方法将频域的s参数得到输入端反射参数继而修正输入阶跃信号激励电压得到频域前向反射电压，将其进行有理化拟合得到系统传递函数，然后根据时域反射计仪器的基本原理，使用阶跃信号去进行系统传递函数得到时域反射电压，接着根据传输线反射理论，通过反射信号与入射信号的关系计算，就可以得到TDR阻抗的大小。该方法是一个纯软件算法，不需要使用专门的测量仪器和测量夹具来测反射信号与入射信号，复杂度较低，易于实现，且该方法无需预先知道传输通道的设计文件、材料参数、叠层文件等相关参数，适用范围更广，简化了阻抗测试和仿真工作。
主权项：1.一种基于传输通道的s参数提取TDR阻抗曲线的方法，其特征在于，所述方法包括：从传输通道的s参数中提取输入端反射参数；基于所述输入端反射参数对输入阶跃信号激励电压进行修正为频域前向反射电压；对频域前向反射电压进行有理化拟合得到系统传递函数，其中，，是频域前向反射电压的频率也是传输通道的s参数的频率，是虚数参数；是频点处的极点，是频点处的残差，是频率包含的频点总数量，是频率响应偏移，是频率响应时间延迟；利用阶跃信号激励所述系统传递函数并进行拉普拉斯逆变换得到时域反射电压，其中，是采样时间，任意按照递归计算得到且，为阶跃信号且，是上升时间，是采样点总数；按照提取得到所述传输通道的TDR阻抗，是参考阻抗。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 无锡中微亿芯有限公司 一种基于传输通道的s参数提取TDR阻抗曲线的方法
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