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控制硅熔融物中的掺杂剂浓度以增强铸锭质量 

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申请/专利权人:环球晶圆股份有限公司

摘要:本发明公开用于制造单晶硅铸锭的方法,其中硅熔融物中的掺杂剂浓度受到控制。所述掺杂剂浓度的所述控制通过所述单晶硅铸锭的颈部、冠部及主体部分中的位错的减少或消除来增强铸锭质量。

主权项:1.一种通过丘克拉斯基方法制备单晶硅铸锭的方法,所述方法包括:使硅晶种与硅熔融物接触,其中所述硅熔融物容纳在坩埚内且包括熔融硅及n型掺杂剂;从所述硅熔融物抽出所述硅晶种以形成所述单晶硅铸锭的颈部部分,所述颈部部分具有在5毫欧姆-cm与12毫欧姆-cm之间的电阻率;生长邻近所述单晶硅铸锭的所述颈部部分的向外张开晶种-圆锥,所述向外张开晶种-圆锥具有在5毫欧姆-cm与12毫欧姆-cm之间的电阻率;按足以将所述单晶硅铸锭的主体的电阻率降低到小于4毫欧姆-cm的电阻率的浓度,将n型掺杂剂添加到所述熔融物;及生长邻近所述向外张开晶种-圆锥的所述单晶硅铸锭的主体,所述单晶硅铸锭的所述主体具有小于4毫欧姆-cm的电阻率。

全文数据:

权利要求:

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