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超级结器件及其制造方法 

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申请/专利权人:上海华虹宏力半导体制造有限公司

摘要:本发明提供一种超级结器件,包括衬底,在衬底上形成有外延层,外延层上形成至少两个第一沟槽;在第一沟槽的底部形成有第二沟槽;在第二沟槽中形成有P柱,P柱的顶端高于第一沟槽的底端;在P柱上形成有隔离介质层,在第一沟槽的侧壁形成有栅极电介质层;非P柱引出端区域上的第一沟槽中形成有栅极多晶硅层;在外延层上形成的阱区和源区;在外延层上形成接触孔介质层,在接触孔介质层形成有第一至三接触孔,第一接触孔的底端与栅极多晶硅层相连通,第二接触孔的底端与P柱引出端区域中的P柱连通。本发明器件的最小线宽仅由P柱和Mesa区域定义,能够减小元胞尺寸,进一步增加器件集成度。

主权项:1.一种超级结器件,其特征在于,包括:衬底,在所述衬底上形成有外延层,所述外延层上形成至少两个第一沟槽;在所述第一沟槽的底部形成有第二沟槽;在所述第二沟槽中形成有P柱,所述P柱的顶端高于所述第一沟槽的底端;在所述P柱上形成有隔离介质层,在所述第一沟槽的侧壁形成有栅极电介质层;非P柱引出端区域上的所述第一沟槽中形成有栅极多晶硅层;在所述外延层上形成的阱区和源区;在所述外延层上形成接触孔介质层,在所述接触孔介质层形成有第一至三接触孔,所述第一接触孔的底端与所述栅极多晶硅层相连通,所述第二接触孔的底端与P柱引出端区域中的P柱连通;填充所述第一至三接触孔的导电金属。

全文数据:

权利要求:

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