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基于结构光投影的三维测量方法、装置、设备及介质 

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申请/专利权人:北京博视像元科技有限公司

摘要:本发明公开了一种基于结构光投影的三维测量方法、装置、设备及介质。其中,该方法包括:获取多张待测物体上带有预设条纹图案投影的待处理图像;根据多张待处理图像确定与待测物体对应的目标解码结果;其中,目标解码结果包括多个目标像素点对应的目标解码值;针对目标解码结果中的每个目标像素点,根据目标像素点对应的目标解码值、预设的初始标定解码值以及与目标像素点对应的预设标定模型确定与目标像素点对应的高度值;根据每个目标像素点对应的高度值确定与待测物体对应的物体高度。本技术方案,通过采用基于预设编码规则生成的预设二值码来进行三维重建,实现了降低计算复杂度,进而,提高三维重建效率的效果。

主权项:1.一种基于结构光投影的三维测量方法,其特征在于,包括:获取多张待测物体上带有预设条纹图案投影的待处理图像;其中,每张所述待处理图像中所述待测物体对应的预设条纹图案不同;所述预设条纹图案基于预设二值码生成;不同的所述预设二值码均依据同一预设编码规则编码生成;所述预设编码规则至少包括编码长度为预设编码长度和至少连续预设数量的码值为第一预设码值;根据所述多张待处理图像确定与所述待测物体对应的目标解码结果;其中,所述目标解码结果包括多个目标像素点对应的目标解码值;每个所述目标像素点对应的目标解码值基于所述多张待处理图像中相应像素点对应的灰度值确定;针对所述目标解码结果中的每个目标像素点,根据所述目标像素点对应的目标解码值、预设的初始标定解码值以及与所述目标像素点对应的预设标定模型确定与所述目标像素点对应的高度值;其中,所述目标解码值对应的图像采集高度与所述预设标定解码值对应的图像采集高度相同;根据每个所述目标像素点对应的高度值确定与所述待测物体对应的物体高度。

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