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申请/专利权人：惠州市金山电子有限公司

摘要：本发明公开了一种锦丝线寿命测试仪与测试系统及测试方法。本发明的锦丝线寿命测试仪可有效避免锦丝线的夹伤，并可保证锦丝线的摆动与实际使用场景的摆动高度符合，同时使锦丝线在通入电流时可在磁场作用下产生安培力而发生摆动，以进行锦丝线的寿命测试，可根据需要调整磁场强度以调节锦丝线的受力大小。本发明的锦丝线寿命测试系统可实现锦丝线的摇摆速度、转速、弧度、角度、负重、负载电流等与实际使用场景高度符合的寿命测量，且可实现两种以上试验条件的交替循环测试，提高锦丝线的寿命测试精度。本发明的锦丝线寿命测试方法，基于上述的锦丝线寿命测试系统进行测试，摒弃传统的马达机械驱动摆动，可实现锦丝线高度符合使用场景的高精准测试。

主权项：1.一种锦丝线寿命测试系统，其特征在于，包括扫频仪、功率放大器、测试仪、继电器、计时计数器以及电流表；所述扫频仪与所述功率放大器连接并可向所述功率放大器输出信号，所述功率放大器可通过锦丝线与所述继电器连接并向所述继电器输出信号，所述计时计数器与所述继电器连接并可向所述继电器输出信号，所述继电器与所述电流表连接；所述测试仪包括上磁铁支架以及下磁铁支架，所述上磁铁支架与所述下磁铁支架相对设置；且所述上磁铁支架与所述下磁铁支架可相对发生上下移动；所述上磁铁支架上设置有第一磁铁，所述下磁铁支架上设置第二磁铁，所述第一磁铁与所述第二磁铁相对设置；所述上磁铁支架的两端设置有第一压紧块，所述下磁铁支架的两端设置有第二压紧块，且所述第一压紧块与所述第二压紧块对应；所述系统用于锦丝线寿命测试，所述测试包括如下步骤：S1、将待测试的锦丝线置于调整块内，所述调整块置于所述测试仪内，并由所述测试仪的上磁铁支架以及下磁铁支架相互压紧所述调整块，将置于所述调整块内的锦丝线调整形成具有弧度的待测锦丝线；所述调整块包括相互合模的上调整块与下调整块，所述上调整块与所述下调整块之间具有适配的弧面；S2、裁剪所述具有弧度的待测锦丝线，获得具有固定长度和弧度的待测锦丝线；S3、重新调整所述上磁铁支架与所述下磁铁支架的间距，并使锦丝线的两端由所述第一压紧块和所述第二压紧块配合压紧；取出所述调整块，将所述具有固定长度和弧度的待测锦丝线置于所述测试仪的上磁铁支架以及下磁铁支架之间；S4、将锦丝线的两端分别与所述功率放大器及所述继电器连接；所述锦丝线寿命测试系统接通电源，调节所述扫频仪、所述功率放大器、所述继电器以及所述计时计数器至设定参数；S5、启动测试；开始测试时以及之后间隔固定时间，观测锦丝线在所述测试仪内的摆动状态；如有异常，则进入S6；如无异常，则进入S7；S6、关闭电源，查找原因，纠正后进入S4，重新测试；S7、定时观察所述计时计数器的时间和或次数，并观察及记录所述电流表显示的数值；S8、若所述电流表显示电流值小于0.01A，或所述计时计数器的持续试验的计数值停止增加，则锦丝线开路，试验失败；记录试验失败时的时间和或次数，结束测试，锦丝线的寿命测试不合格；若所述电流表显示电流值不小于0.01A，且所述计时计数器的持续试验的计数值达到设定值，则继续进入S9；S9、试验自动停止后，关闭电源，取出锦丝线；S10、测试锦丝线的直流电阻；若锦丝线的直流电阻符合规格，且锦丝线外观无损伤，则寿命测试合格；若否，则寿命测试不合格。

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