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申请/专利权人：北京振兴计量测试研究所
摘要：本发明涉及电子元器件检测技术领域，公开了一种基于FLASH和继电器的FPGA配置测试系统及方法。该系统包括：配置测试板；FLASH芯片，设置在所述配置测试板上，用于在测试过程中向FPGA芯片装载对应的配置文件；继电器，设置在所述配置测试板上与所述FLASH芯片连接，用于根据接收的配置指令执行切换操作来控制所述FLASH芯片的配置文件的装载；测试装置，用于对装载有配置文件的FPGA芯片进行测试。由此，可以通过继电器的切换控制配置FLASH芯片的数据装载，实现FPGA测试的多重实时配置。
主权项：1.一种基于FLASH和继电器的FPGA配置测试系统，其特征在于，该系统包括：配置测试板；FLASH芯片，设置在所述配置测试板上，用于在测试过程中向FPGA芯片装载对应的配置文件；继电器，设置在所述配置测试板上与所述FLASH芯片连接，用于根据接收的配置指令执行切换操作来控制所述FLASH芯片的配置文件的装载；测试装置，用于对装载有配置文件的FPGA芯片进行测试；所述继电器包括第一继电器和第二继电器，其中：所述第一继电器根据接收的配置指令执行切换操作确定待装载配置文件所在的FLASH芯片；所述第二继电器根据接收的配置指令执行切换操作确定待装载配置文件在所确定的FLASH芯片中的区域；FLASH芯片将所确定的区域中的配置文件装载至FPGA芯片中。
全文数据：
权利要求：
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