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申请/专利权人：上海安路信息科技股份有限公司
摘要：本发明涉及嵌入式软件测试的领域，提供基于FPGA的芯片测试方法和装置，方法包括，对待测模块进行位置约束以得到目标待测电路；根据待测模块构建对应的测试用例生成电路和测试结果分析电路；将测试用例生成电路、测试结果分析电路与目标待测电路连接以得到整体测试电路，根据整体测试电路的测试分析结果调试测试用例生成电路和测试结果分析电路，在测试分析结果满足预设的调试通过条件时，整体测试电路的配置文件存入配置库，以供符合预设要求的其他待测模块构建对应的测试用例生成电路和测试结果分析电路。本案通过映射底层电路确定测试用例生成电路和测试结果分析电路的位置，省去了工具综合和时序分析收敛的环节和时间，提高整体运行效率。
主权项：1.基于FPGA的芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：对待测模块进行位置约束以得到目标待测电路；根据所述待测模块构建对应的测试用例生成电路和测试结果分析电路；将所述测试用例生成电路、所述测试结果分析电路与所述目标待测电路连接以得到整体测试电路；根据所述整体测试电路输出的测试分析结果，调试所述测试用例生成电路和所述测试结果分析电路，直至所述测试分析结果满足预设的调试通过条件。
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百度查询： 上海安路信息科技股份有限公司 基于FPGA的芯片测试方法和装置
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