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申请/专利权人：DH科技发展私人贸易有限公司
摘要：现在要求保护并描述了用于在质谱法MS检测中执行化合物标记的校准的系统和方法。示例系统和方法提供了样品中所有或基本上所有pI标记的自动识别，从而构建时间和pI的校准曲线，和或将时间尺度转换成pI尺度。鉴于时间尺度和pI尺度之间的相关性，pI可以与强度相关联，并呈现给操作员用于进一步分析。
主权项：1.一种用于在质谱法MS检测中执行等电点pI标记的校准的方法，所述方法包括：从对样品执行的MS数据生成包括与所述样品相关联的一个或多个pI标记的输出；在所述输出中识别所述一个或多个pI标记；识别与所述一个或多个pI标记相关联的同位素或电荷状态中的一个或多个；以及基于识别的同位素或电荷状态，将时间值与识别的所述一个或多个pI标记相关联。
全文数据：
权利要求：
百度查询： DH科技发展私人贸易有限公司 用于毛细管等电聚焦-质谱法(CIEF-MS)等电点(pI)校准的系统和方法
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