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用于抑制钨蚀刻的组合物和方法 

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申请/专利权人:巴斯夫欧洲公司

摘要:本文要求保护的发明涉及电介质抛光组合物及其方法。本文要求保护的发明特别地涉及一种组合物,该组合物包含:A表面改性的胶体二氧化硅颗粒,其在该颗粒的表面上包含带负电荷的基团,其中该表面改性的胶体二氧化硅颗粒具有负电荷,60nm至200nm的粒度,以及在≥2.0至≤4.5范围内的pH下‑35mV的ζ电位;B选自至少一种胍衍生物的第一腐蚀抑制剂;C选自聚丙烯酰胺或聚丙烯酰胺共聚物的第二腐蚀抑制剂;D至少一种铁III氧化剂;E至少一种选自磷酸及其盐的氧化硅去除速率增强剂;F至少一种稳定剂;以及G水性介质,其中该组合物的pH在≥2.0至≤4.5的范围内。

主权项:1.一种电介质抛光组合物,该组合物包含A表面改性的胶体二氧化硅颗粒,其在该颗粒的表面上包含带负电荷的基团,其中该表面改性的胶体二氧化硅颗粒具有负电荷,60nm至200nm的粒度,以及在≥2.0至≤4.5范围内的pH下-35mV的ζ电位;B选自至少一种胍衍生物的第一腐蚀抑制剂;C选自聚丙烯酰胺或聚丙烯酰胺共聚物的第二腐蚀抑制剂;D至少一种铁III氧化剂;E至少一种选自磷酸及其盐的氧化硅去除速率增强剂;F至少一种稳定剂;以及G水性介质,其中该组合物的pH在≥2.0至≤4.5的范围内。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 巴斯夫欧洲公司 用于抑制钨蚀刻的组合物和方法

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