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申请/专利权人:美光科技公司
摘要:本申请案涉及污染物检测工具及相关方法。一种污染物检测方法包括将包括一或多种污染物的晶片暴露于氧化剂的微滴以在所述晶片的表面上形成氧化物,将所述氧化物暴露于蚀刻剂以去除所述氧化物并将所述一或多种污染物留在所述晶片的所述表面上,及确定所述一或多种污染物的组成。还揭示额外方法及相关工具。
主权项:1.一种污染物检测工具,其包括:卡盘,其经配置以接纳晶片,所述卡盘经配置以有角度地旋转;臂,其经配置以关于所述卡盘的表面移动;及雾化器,其耦合到所述臂并与氧化剂及载气流体连通,所述雾化器经配置以产生包括所述氧化剂的微滴的气溶胶,所述雾化器与所述晶片之间的距离在约5mm到约150mm的范围内。
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权利要求:
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