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申请/专利权人:上海御渡半导体科技有限公司
摘要:本发明涉及集成电路自动化测试设备领域,尤其涉及一种基于ATE跨地址的数据处理方法及处理系统。该方法包括根据配置指令选择是否进行连续写入;若需进行连续写入时,处理器将失效数据非连续地址的逻辑地址均按照连续数据写入FIFO,直至达到所述FIFO的阈值后搬迁至DDR中;根据读取指令选择是否按照映射读取所述DDR中的失效数据。本发明通过将非连续地址的逻辑地址按照连续数据写入FIFO,直至达到FIFO的阈值后搬迁至DDR中,从而可减少FIFO内存空间的使用,避免频繁调用FIFO,进而加快失效数据的写入速率。同时,该方法也提高了DDR的利用率。
主权项:1.一种基于ATE跨地址的数据处理方法,其特征在于,包括以下步骤:根据配置指令选择是否进行连续写入;若需进行连续写入时,处理器将失效数据非连续地址的逻辑地址均按照连续数据写入FIFO,直至达到所述FIFO的阈值后搬迁至DDR中;根据读取指令选择是否按照映射读取所述DDR中的失效数据。
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权利要求:
百度查询: 上海御渡半导体科技有限公司 一种基于ATE跨地址的数据处理方法及处理系统
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