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一种CC校验方法及相关装置 

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申请/专利权人:超聚变数字技术有限公司

摘要:一种CC校验方法,包括:获取Raid卡上历史IO操作的时延变化信息;根据时延变化信息,确定至少一个低时延时间段;根据至少一个低时延时间段,确定CC校验的执行参数。其中,通过将CC设置于上层业务的IO时延较低的时间段,避免了CC工作“抢占”上层业务的逻辑资源,降低了CC工作对上层业务的不利影响,保证了上层业务的工作性能,从而可以在用户不感知的情况下进行CC工作,提升了用户使用体验。

主权项:1.一种CC校验方法,其特征在于,包括:获取Raid卡上历史IO操作的时延变化信息;根据所述时延变化信息,确定至少一个低时延时间段;根据所述至少一个低时延时间段,确定CC校验的执行参数。

全文数据:

权利要求:

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