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申请/专利权人：浙江大学
摘要：本发明公开了一种基于上下文和拓扑特征提取的量子电路保真度分析方法和装置，包括：在量子电路中进行随机游走生成门的路径，路径表示门之间的链式关系，路径中的链式关系表示电路的拓扑特征，路径类型表示上下文信息；通过将路径与路径表匹配得到门特征向量；对门特征向量进行降维；引入权重向量，将门误差建模为降维后的门特征向量与权重向量的点积，整个量子电路的保真度预测为所有门误差的相关多项式表达式。该方法和装置能够实现量子电路保真度的分析，且能够提高保真度分析的准确性。
主权项：1.一种基于上下文和拓扑特征提取的量子电路保真度分析方法，其特征在于，包括以下步骤：在量子电路中进行随机游走生成门的路径，路径表示门之间的链式关系，路径中的链式关系表示电路的拓扑特征，路径类型表示上下文信息；通过在电路数据集中的所有门上应用随机游走离线生成一张全局的路径表，通过将路径与路径表匹配得到门特征向量，包括：通过将路径与路径表匹配得到门特征向量，门特征向量中每个向量元素对应于路径表中的一条路径，门特征向量的维数等于路径表的大小，路径表的元素都初始化为0，如果路径表中有k步游走生成的路径，则对应向量元素值设置为αk，α≤走表示衰减参数，由此来量化每条路径得到每条路径的门特征向量，门特征向量评估门之间的交互程度；对门特征向量进行降维；引入权重向量，将门误差建模为降维后的门特征向量与权重向量的点积，整个量子电路的保真度预测为所有门误差的相关多项式表达式，表示为： Evi＝WTvi其中，vi表示第i个降维后的门特征向量，W表示权重向量，上标T表示转置，Evi表示门误差，q∈Q表示属于门集合的门q，Nq表示门重量，Mq表示门q的测量保真度，Fcircuit表示整个量子电路的保真度预测值。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 浙江大学 基于上下文和拓扑特征提取的量子电路保真度分析方法和装置
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