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申请/专利权人：湖南粉湘情食品有限公司

摘要：本发明涉及光谱分析技术领域，具体涉及一种偏热卤制品的生产质量光谱检测方法及系统。本发明获取待测样品的红外吸收光谱，并划分得到所有波数子区间；进一步获取每个波数子区间内吸收峰的重叠程度，从而筛选出重度重叠子区间；进一步获取每个重度重叠子区间中每个吸收峰曲线的偏向权重；根据每个重度重叠子区间中每个吸收峰曲线的偏向权重，对红外吸收光谱进行降维分析，评估待测样品的生产质量。本发明通过分析评估偏热卤制品的红外吸收光谱中的吸收峰重叠情况，确定降维分析时的偏向权重，从而针对性降维，在提高成分分析效率的同时保留了主要成分的主要光谱特征，以提高偏热卤制品的质量检测准确性。

主权项：1.一种偏热卤制品的生产质量光谱检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测样品的红外吸收光谱，所述红外吸收光谱中包含待测样品中所有成分的吸收峰曲线；对所述红外吸收光谱的波数总区间进行划分，得到所有波数子区间；在每个所述波数子区间内，根据所有所述吸收峰曲线的波动特征，结合所述吸收峰曲线的总数量，获取每个所述波数子区间内吸收峰的重叠程度；根据所述重叠程度从所有所述波数子区间中筛选出重度重叠子区间；根据每个所述重度重叠子区间与预设标准波数区间的重合情况，结合每个所述吸收峰曲线在所述重度重叠子区间及邻域波数子区间内的变化趋势，获取每个所述重度重叠子区间中每个所述吸收峰曲线的偏向权重；根据每个所述重度重叠子区间中每个所述吸收峰曲线的所述偏向权重，对所述红外吸收光谱进行降维分析；所述重叠程度的获取方法包括：在每个所述波数子区间内，根据所有所述吸收峰曲线对应曲线子段的斜率变化情况及周期性特征，获取每个所述波数子区间的信息变化参数；根据所述信息变化参数及所述吸收峰曲线的总数量，获取每个所述波数子区间内吸收峰的重叠程度；所述信息变化参数及所述吸收峰曲线的总数量均与所述重叠程度正相关；所述信息变化参数的获取方法包括：在每个所述波数子区间内，将每个所述吸收峰曲线对应曲线子段进行分割，获取每个所述曲线子段中的所有局部子段，并对每个所述局部子段进行频域变换，得到频域局部子段，获取每个所述频域局部子段的周期；根据每个所述曲线子段中相邻所述局部子段的斜率变化差异，获取每个所述曲线子段的第一变化参数；根据每个所述曲线子段中相邻所述局部子段的周期变化差异，获取每个所述曲线子段的第二变化参数；根据所有所述曲线子段的所述第一变化参数及所述第二变化参数，获取每个所述波数子区间的信息变化参数；所述第一变化参数及所述第二变化参数均与所述信息变化参数正相关。

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