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申请/专利权人：西安交通大学

摘要：本发明公开了一种定量评估绝缘纸聚合度的光谱模型传递方法及系统，定量评估的方法包括，采集绝缘纸样品的第一光谱数据和第二光谱数据并进行插值处理及多元散射矫正，及通过Savitzky‑Golay卷积法及矩阵标准化法处理后，构建基于PLS模型的训练样本，获取PLS模型的最优PLS因子数；基于最优PLS因子数对应的PLS模型，对初始样品数据集进行训练，获取第一模型参数和第二模型参数，并通过最优PLS因子数，构建用于定量评估绝缘纸聚合度的评估模型；光谱模型传递系统用于实现定量评估方法，本发明所提出的方法与传统方法进行了比较，能在只有少量从仪器光谱的情况下得到最优的效果，实现了不同光谱仪之间的模型传递。

主权项：1.一种定量评估绝缘纸聚合度的光谱模型传递方法，其特征在于，包括以下步骤：采集绝缘纸样品的第一光谱数据和第二光谱数据，对所述第一光谱数据、所述第二光谱数据进行插值处理及多元散射矫正，构建初始样品数据集；基于Savitzky-Golay卷积法及矩阵标准化法，对所述初始样品数据集进行预处理，构建基于PLS模型的训练样本，获取所述PLS模型的最优PLS因子数；基于所述最优PLS因子数对应的所述PLS模型，对所述初始样品数据集进行训练，获取第一模型参数和第二模型参数；基于所述PLS模型，通过所述最优PLS因子数、所述第一模型参数、所述第二模型参数，构建用于定量评估绝缘纸聚合度的评估模型；在构建初始样品数据集的过程中，基于所述第一光谱数据的横坐标，对所述第一光谱数据、所述第二光谱数据进行线性插值处理；线性插值公式为： 其中，x2，x1为插值区间端点，f为所述第二光谱数据在插值端点的吸光度，px为所求插值区间一次拟合函数，将所述第二光谱数据的横坐标替换为所述第二光谱数据的横坐标带入px即可；在对所述第一光谱数据、所述第二光谱数据进行插值处理后，所述多元散射矫正的方法包括以下步骤：提取所述第一光谱数据的均值作为所述多元散射矫正的理想光谱数据；基于所述第一光谱数据、所述第二光谱数据、所述理想光谱数据，进行一元线性回归处理，获取所述绝缘纸样品的基线平移量和偏移量；基于所述基线平移量和所述偏移量，对所述第一光谱数据、所述第二光谱数据进行多元散射矫正，构建所述初始样品数据集。

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百度查询： 西安交通大学 一种定量评估绝缘纸聚合度的光谱模型传递方法及系统