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申请/专利权人:广州计量检测技术研究院
摘要:本实用新型公开了一种紧缩场转台的校准系统,包括紧缩场系统、转台系统、定位机构以及校准机构;所述紧缩场系统包括紧缩场馈源及紧缩场反射面,所述紧缩场馈源的相位中心匹配于所述紧缩场反射面的曲面焦点;所述转台系统包括紧缩场转台、扫描架及待测件,所述扫描架连接于所述紧缩场转台,所述待测件夹持于所述扫描架上;所述定位机构电性连接于所述待测件以及所述紧缩场馈源,所述校准机构连接于所述紧缩场转台,所述定位机构与所述校准机构电性连接。本实用新型能够消除紧缩场转台的机械参考面以及与紧缩场平面波来波方向垂直的垂直面之间存在一个夹角,提高天线测试精度。
主权项:1.紧缩场转台的校准系统,其特征在于,包括紧缩场系统、转台系统、定位机构以及校准机构;所述紧缩场系统包括紧缩场馈源及紧缩场反射面,所述紧缩场馈源的相位中心匹配于所述紧缩场反射面的曲面焦点;所述转台系统包括紧缩场转台、扫描架及待测件,所述扫描架连接于所述紧缩场转台,所述待测件夹持于所述扫描架上;所述定位机构电性连接于所述待测件以及所述紧缩场馈源,所述校准机构连接于所述紧缩场转台,所述定位机构与所述校准机构电性连接。
全文数据:
权利要求:
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