龙图腾网&IPTOP
- 微信扫码登录
- 账号密码登录
- 短信登录/注册
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
摘要：本发明涉及半导体技术领域，尤其涉及一种边缘不完整区域WAT测试方法、系统及可读存储介质，方法包括：根据晶圆的晶圆图获取各个partialsite中每个testkey距离晶圆中心最远的焊盘的判别坐标，计算判别坐标与晶圆中心之间的距离；将计算得到的距离与晶圆的有效半径进行比较，若距离小于有效半径，则表示对应的testkey是完整的；反之，则表示对应的testkey是不完整的；建立测试程式，根据测试程式对晶圆上所有的完整的testkey进行WAT测试，不完整的testkey自动跳过不测。该方法能够简单快捷的判断出partialsite中各个testkey是否完整。
主权项：1.一种边缘不完整区域WAT测试方法，其特征在于，包括以下步骤：根据晶圆的晶圆图获取各个partialsite中每个testkey距离晶圆中心最远的焊盘的判别坐标，计算所述判别坐标与所述晶圆中心之间的距离；将计算得到的所述距离与所述晶圆的有效半径进行比较，若所述距离小于所述有效半径，则表示对应的所述testkey是完整的；反之，则表示对应的所述testkey是不完整的；建立测试程式，根据所述测试程式对所述晶圆上所有的完整的testkey进行WAT测试，不完整的testkey自动跳过不测。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 杭州积海半导体有限公司 边缘不完整区域WAT测试方法、系统及可读存储介质
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
主营中国专利交易买卖与专利转让许可,高校科技成果推广与科技成果转化,知识产权运营管理与平台开发,科技人才专家库与科技猎头等科技服务
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号