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摘要：本发明提供一种减少测试向量的方法、装置及设备，所述方法包括：在对指定器件进行扫描测试期间，若当前测试阶段处于第一阶段，则基于第一支路向指定或门输入第一数值，所述指定或门位于测试使能端与时钟门控之间，并与所述第一支路相连，在所述测试阶段处于第一阶段时，所述测试使能端输出值为第二值；基于所述指定或门对所述第一数值和当前测试使能端输出的第二数值进行或运算，并将或运算结果输入时钟门控，以开启所述时钟门控，允许所述时钟电路向待扫描寄存器输送时间值，其中，所述或运算结果与时钟门控的开启条件匹配。本发明提供的减少测试向量的方法能够在芯片测试过程中有效减少测试向量，提高测试效率。
主权项：1.一种减少测试向量的方法，其特征在于，包括：在对指定器件进行扫描测试期间，若当前测试阶段处于第一阶段，则基于第一支路向指定或门输入第一数值，所述指定或门位于测试使能端与时钟门控之间，并与所述第一支路相连，所述时钟门控一端分别与多个待扫描寄存器相连，另一端与测试使能端、时钟电路、控制逻辑电路相连，所述控制逻辑电路用于在所述测试使能端输出值为第二值时控制所述时钟门控开关，在所述测试阶段处于第一阶段时，所述测试使能端输出值为第二值；基于所述指定或门对所述第一数值和当前测试使能端输出的第二数值进行或运算，并将或运算结果输入时钟门控，以开启所述时钟门控，允许所述时钟电路向待扫描寄存器输送时间值，其中，所述或运算结果与时钟门控的开启条件匹配。
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百度查询： 北京芯驰半导体科技股份有限公司 一种减少测试向量的方法、装置及设备
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