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摘要：本申请涉及一种用于MCU的对称密码算法模块的测试方法、装置及设备。所述方法包括：在MCU的对称密码算法模块所能访问的每个存储器区域内，选取两个不重叠的存储空间，并构建存储空间列表；其中，存储空间列表中同一存储空间可重复添加；利用对称密码算法模块执行数据加密运算，并根据存储空间列表指定数据加密运算过程中运算数据和运算结果的存储空间，得到正确性验证数据；其中，正确性验证数据存储在同一个存储器区域内；采用对称密码算法验证工具对正确性验证数据进行验证，通过判断正确性验证数据是否有效进行对称密码算法模块的测试。采用本方法能够实现MCU中对称密码算法模块的高效测试。
主权项：1.一种用于MCU的对称密码算法模块的测试方法，其特征在于，所述方法包括：S1，在MCU的对称密码算法模块所能访问的每个存储器区域内，选取两个不重叠的存储空间，并构建存储空间列表；其中，所述存储空间列表中同一存储空间可重复添加；S2，利用对称密码算法模块执行数据加密运算，并根据所述存储空间列表指定数据加密运算过程中运算数据和运算结果的存储空间，得到正确性验证数据；其中，所述正确性验证数据存储在同一个存储器区域内；S3，采用对称密码算法验证工具对所述正确性验证数据进行验证，通过判断所述正确性验证数据是否有效进行对称密码算法模块的测试。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海芯钛信息科技有限公司 用于MCU的对称密码算法模块的测试方法、装置及设备
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