买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

摘要：本发明提供一种面料瑕疵检测方法及系统，涉及图像处理技术领域，方法包括：将特征提取骨干网络、特征强化颈部网络以及瑕疵检测头依次串联，构建基于神经网络的面料瑕疵检测模型；获取面料图像；对面料图像进行预处理；通过特征提取骨干网络，提取面料图像的初级特征图；通过特征强化颈部网络，对初级特征图进行特征强化处理，得到强化特征图；通过瑕疵检测头，根据强化特征图，检测面料图像中的瑕疵区域。本发明可以增强特征的表达能力，更好地捕捉到图像中的细节和微小瑕疵，提升微小尺度面料瑕疵的检测准确性，减少漏检和误检的概率。

主权项：1.一种面料瑕疵检测方法，其特征在于，包括：S1：将特征提取骨干网络、特征强化颈部网络以及瑕疵检测头依次串联，构建基于神经网络的面料瑕疵检测模型；S2：获取面料图像；S3：对所述面料图像进行预处理；S4：通过所述特征提取骨干网络，提取所述面料图像的初级特征图；S5：通过所述特征强化颈部网络，对所述初级特征图进行特征强化处理，得到强化特征图；S6：通过所述瑕疵检测头，根据所述强化特征图，检测所述面料图像中的瑕疵区域；所述S4具体包括：S401：通过3×3的第一卷积单元，提取所述面料图像的初始特征图： 其中，X1表示初始特征图，RELU表示RELU激活函数，Conv1表示第一卷积单元，X表示面料图像；S402：将所述初始特征图复制为两份，分别为第一初始特征图与第二初始特征图；S403：依次通过7×7的第二卷积单元、空洞率为1的5×5的可变形空洞卷积单元以及3×3的第三卷积单元，对所述第一初始特征图进行卷积处理，得到卷积特征图： 其中，X2表示卷积特征图，Conv2表示第二卷积单元，DConv表示可变形空洞卷积单元，Conv3表示第三卷积单元；S404：对所述第二初始特征图进行对称翻转，得到翻转特征图： 其中，X3表示翻转特征图，SF表示对称翻转操作；S405：对所述卷积特征图与所述翻转特征图进行逐元素相乘，并通过3×3的第四卷积单元进行卷积处理，得到相乘特征图： 其中，X4表示相乘特征图，Conv4表示第四卷积单元，表示逐元素相乘运算；S406：对所述相乘特征图与所述初始特征图进行相加，并通过3×3的第五卷积单元进行卷积处理，得到所述初级特征图： 其中，X5表示初级特征图，Conv5表示第五卷积单元；其中，所述S5具体包括：S501：通过9×9的大核卷积单元，对所述初级特征图进行卷积处理，得到大感受面积特征图： 其中，X6表示大感受面积特征图；BConv表示大核卷积单元，X5表示初级特征图；S502：引入通道维度注意力机制以及空间维度注意力机制，在所述大感受面积特征图中添加注意力权重，得到空间注意力特征图： 其中，X7表示通道注意力特征图，Mc表示通道注意力权重函数，表示逐元素相乘运算，X8表示空间注意力特征图，Ms表示空间注意力权重函数；S503：通过深度可分离卷积单元，对所述空间注意力特征图进行卷积处理，得到中间特征图： 其中，X9表示中间特征图，DWConv表示深度可分离卷积单元；S504：将所述中间特征图与所述初级特征图相加，得到所述强化特征图： 其中，X10表示强化特征图；其中，所述S6具体包括：S601：通过传输连接单元对不同层级输出的强化特征图进行融合处理，得到融合特征图；S602：通过全连接层对各个层级的融合特征图进行汇总，得到汇总特征图；S603：根据所述汇总特征图，计算各个像素点属于瑕疵类别的概率： 其中，P表示属于瑕疵类别的概率，Softmax表示Softmax激活函数，W表示权重矩阵，Vtot表示汇总特征图，b表示偏置项；S604：根据各个像素点属于瑕疵类别的概率，确定所述面料图像中的瑕疵区域；其中，所述传输连接单元包括第一传输连接单元和第二传输连接单元，所述S601具体包括：S6011：通过所述第一传输连接单元，对不同层级输出的强化特征图进行初级融合： 其中，Z1表示第一层级的初级融合特征图，TCB1表示第一传输连接单元，Y1表示第一层级输出的强化特征图，none表示空白图像，Zi表示第i层级的初级融合特征图，Zi-1表示第i-1层级的初级融合特征图，Yi表示第i层级输出的强化特征图，，n表示总层级；S6012：通过全卷积单元，对各个层级的初级融合特征图进行卷积处理，得到各个层级的全卷积特征图： 其中，Ui表示第i层级的全卷积特征图，FConv表示全卷积单元；S6013：通过所述第二传输连接单元，对不同层级的全卷积特征图进行高级融合： 其中，V1表示第一层级的高级融合特征图，TCB2表示第二传输连接单元，U1表示第一层级的全卷积特征图，Vi表示第i层级的高级融合特征图，Vi-1表示第i-1层级的高级融合特征图。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 绍兴达伽马纺织有限公司 一种面料瑕疵检测方法及系统